Publicaciones

• Communication dans un congrès

Modeling of cymbal transducers and arrays

J. Zhang, Anne-Christine Hladky, P. Bouchilloux, R.E. Newnham

ATILA Workshop, 2000, University Park, United States. ⟨hal-00157838⟩

• Communication dans un congrès

10 GHz load-pull measurements for a 0,3 µm-N-HIGFET

M. Touirat, M. Roger, E. Delos, L. Nuyen, Y. Crosnier, G. Salmer

2000, pp.VI-7, VI-8. ⟨hal-00157874⟩

• Communication dans un congrès

Intégration silicium à l'IEMN : de l'architecture de composants aux circuits radiofréquences

Emmanuel Dubois, V. Senez, Gilles Dambrine, A. Kaiser

Journée Thématique de l'ANRT sur l'Intégration, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158505⟩

• Communication dans un congrès

Narrowband active GaAs MMIC filters in K-band

J. Vindevoghel, P. Descamps

2000, pp.147-150. ⟨hal-00158160⟩

• Communication dans un congrès

Finite element modeling of smart materials : application to an adaptative structure using SMA

Anne-Christine Hladky, S. Rafanomezantsoa, L. Buchaillot

2000, pp.133-142. ⟨hal-00157816⟩

• Communication dans un congrès

Ballistic emitter for InP heterojunction bipolar transistors

D. Sicault, S. Demichel, R. Teissier, C. Dupuis, F. Pardo, F. Mollot, J.L. Pelouard

25th International Conference on the Physics of Semiconductors, ICPS-25, 2000, Japan. pp.1781-1782. ⟨hal-00250435⟩

• Autre publication scientifique

Contribution à la conception et à la réalisation de liaisons radio haut débit intra-bâtiment à 60 GHz

Christophe Loyez

2000. ⟨hal-00157903⟩

• Autre publication scientifique

Nouvelles architectures de sources stables programmables en gamme millimétrique et centimétrique

G. Lewandowski

2000. ⟨hal-00158127⟩

• Article dans une revue

Measurement of residual phase noise of frequency divider using a single divider technique

V. Brugidou, Paul-Alain Rolland

A new technique for measuring the residual phase noise of a frequency divider is proposed. The new technique enables one divider to be characterised whereas the traditional technique necessitates two dividers. Experimentation demonstrates the validity of the technique, which is quicker and more...

Electronics Letters, 2000, 36 (16), pp.1391-1393. ⟨10.1049/el:20000983⟩. ⟨hal-00158126⟩

• Article dans une revue

Dependence of the carrier lifetime on acceptor concentration in GaAs grown at low-temperature under different growth and annealing conditions

M. Stellmacher, J. Nagle, Jean-Francois Lampin, P. Santoro, J. Vaneecloo, Antigoni Alexandrou

Journal of Applied Physics, 2000, 88, pp.6026-6031. ⟨hal-00158228⟩