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Réalisation d'un banc de mesure d'intermodulation biton en bande Ka : application à l'analyse des causes technologiques de non-linéarité des HEMTs de puissance
Frédéric Bue-Erkmen
2003. ⟨hal-00146643⟩
60-GHz high power performance In0.32 Al0.68 As-In0.33 Ga 0.67 As metamorphic HEMTs on GaAs
M. Zaknoune, M. Ardouin, Y. Cordier, S. Bollaert, B. Bonte, Didier Theron
IEEE Electron Device Letters, 2003, 24, pp.724-726. ⟨hal-00146648⟩
Caractérisation non destructive d'un profil d'humidité à 2.45 GHz et technique de déconvolution aveugle associée
D. Glay, T. Lasri
2003, pp.6D-13. ⟨hal-00146064⟩
Phase sensitivity of low frequency ultrasound wave emitted by a nonlinear interaction of phase conjugate acoustic beams
Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky, Y.U. Pylnov
2003, pp.855-857. ⟨hal-00146131⟩
Amélioration du fmax des HEMTs InAlAs/InGaAs sur substrat d'InP de longueur de grille 70nm par optimisation de la structure de couche
I. Duszynski, T. Parenty, S. Bollaert, H. Happy, J. Mateos, X. Wallart, A. Cappy
2003, pp.2B1-1. ⟨hal-00145993⟩
Composants balistiques pour applications térahertz
S. Bollaert, Yannick Roelens, Jean-Sebastien Galloo, Isabelle Huynen, Hervé Boutry, Javier Mateos
GDR Nanoélectronique : 1ères Journées Nationales Composants pour la micro et nano-électronique, 4èmes Journées Nationales Hétérostructures de semiconducteurs IV-IV, 2003, Grenoble, France. ⟨hal-00146019⟩
Cymbal flextensional transducers. Biomedical arrays, design and fabrication studies
D. Markley, R. Newnham, R. Meyer, W.J. Hughes, N. Smith, S. Yip Lee, Anne-Christine Hladky
American Ceramic Society 105th Annual Meeting, 2003, Nashville,TN, United States. ⟨hal-00145964⟩
Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)
L. Buchaillot
14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2003, 2003, Arcachon, France. ⟨hal-00146457⟩
Physics-based process simulation of ultrashallow junctions
N.E.B. Cowern, B. Colombeau, R. Duffy, V. Venezia, C. Dachs, R. Lindsay, Fuccio Cristiano, E. Lampin, Alain Claverie
Ultra-Shallow Junctions Worshop, 2003, Santa Cruz, CA, United States. ⟨hal-00146422⟩
Numerical analysis of the process induced stresses in silicon microstructures
V. Senez, T. Hoffmann, A. Armigliato, I. de Wolf
2003, pp.350-361. ⟨hal-00146444⟩