Publicaciones
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Localisation d'usagers de la route en détresse par réseau de radiocommuncations cellulaire d'appel d'urgence dédié
M. Laoufi
2003. ⟨hal-00162745⟩
Damage assessment in composites by Lamb waves and wavelet coefficients
Christophe Paget, Sébastien Grondel, K. Levin, Christophe Delebarre
Smart Materials and Structures, 2003, 12, pp.393-402. ⟨hal-00147096⟩
Long-range transport in an assembly of ZnO quantum dots : the effects of quantum confinement, Coulomb repulsion and structural disorder
Aarnoud L. Roest, Alexander Germeau, John J. Kelly, Daniel Vanmaekelbergh, Guy Allan, Eric A. Meulenkamp
ChemPhysChem, 2003, 4, pp.959-966. ⟨10.1002/cphc.200300696⟩. ⟨hal-00146618⟩
Influence d'une passivation précédée d'un traitement de surface sur le comportement électrique en régime statique d'un HEMT AlGaN/GaN
Y. Guhel, B. Boudart, N. Vellas, Christophe Gaquière, E. Delos, D. Ducatteau, Z. Bougrioua, Marie Germain, Jean-Claude de Jaeger
2003, pp.1D-11. ⟨hal-00146690⟩
Oscillateur microondes en technologie CMOS/SOI : étude grand signal des dispositifs et performances des circuits
B. Parvais, A. Siligaris, A. Cerdeire, D. Schreurs, Francois Danneville, Gilles Dambrine, J.P. Raskin
2003, pp.5B-5. ⟨hal-00146014⟩
Lignes coplanaires hautes impédances, influence d'une couche diélectrique
Yannick Roelens, J.S. Galloo, E. Pichonat, S. Bollaert, G. Six, A. Cappy, S. Huynen, L. Berdnarz, J. Mateos
Optique Hertzienne et Diélectrique, OHD 2003, 2003, Calais, France. ⟨hal-00146017⟩
Caractérisation d'objets enfouis - Estimation du coefficient de réflexion
Latifa Achrait-Furlan, T. Lasri, Ahmed Mamouni
Actes de TELECOM 03 et 3èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, JFMMA 2003, 2003, Marrakech, Maroc. pp.1D-20. ⟨hal-00146066⟩
Rayonnement de sources sismiques directionnelles enfouies dans un demi-espace élastique
Madjid Berraki, Bertrand Dubus, Axelle Baroni
VIIIèmes Journées d'Acoustique Physique, Sous-marine et Ultrasonore, JAPSUS, 2003, Cargèse, France. ⟨hal-00145968⟩
Modélisation de bruit pour des MOSFETs SOI 0,25 microns totalement désertés
G. Pailloncy, B. Iniguez, J.P. Raskin, Gilles Dambrine, Francois Danneville
2003, pp.6A-3. ⟨hal-00146010⟩