Publicaciones

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  • Communication dans un congrès

Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs

R. Pierobon, F. Rampazzo, D. Pacetta, Christophe Gaquière, D. Theron, B. Boudart, G. Meneghesso, E. Zanoni

2004, pp.143-146. ⟨hal-00141969⟩

  • Article dans une revue

Electrical characterization of Au/n-GaN Schottky diodes.

B. Akkal, Z. Benamara, H. Abid, A. Talbi, Bernard Gruzza

Materials Chemistry and Physics, 2004, pp.31. ⟨hal-00272575⟩

  • Communication dans un congrès

On-wafer high frequency noise power measurements under cryogenic conditions : a new de-embedding approach [HEMT example]

S. Delcourt, Gilles Dambrine, Nour Eddine Bourzgui, Sylvie Lepilliet, C. Laporte, J.P. Fraysse, M. Maignan

2004, pp.913-916. ⟨hal-00154887⟩

  • Communication dans un congrès

Modelisation et simulation de la technlogie MOS ultimes

E. Lampin, Christophe Krzeminski, T. Alkalin, V. Cuny

GDR Nanoélectronique, 2004, Aussois, France. ⟨hal-00140992⟩

  • Article dans une revue

Residual stress profiling of an aluminum alloy by laser ultrasonics

Y. Pan, M. Qian, Wei-Jiang Xu, Mohamed Ourak

Acta Acustica united with Acustica, 2004, 29, pp.254-257. ⟨hal-00162794⟩

  • Communication dans un congrès

Adsorption of PTCDA on Si(100) and Si(100)-H

T. Soubiron, Francois Vaurette, B. Grandidier, X. Wallart, J.P. Nys, D. Stievenard

NSTI Nanotechnology Conference and Trade Show, 2004, United States. pp.3/383-386. ⟨hal-00248093⟩