Publicaciones

• Article dans une revue

Détection de failles par méthodes sismiques lors du creusement des tunnels, Seismic techniques to detect faults when driving tunnels

Benoît Celse, Bernard Vayssade, Jean Pierre Henry, Philippe Côte, O. Abraham, Bogdan Piwakowski

L'objectif de cet article est de présenter une nouvelle méthode de reconnaissance à l'avancement. Le but est la caractérisation tridimensionnelle du massif en avant du front de taille par méthodes sismiques. La tomographie réflexion a été choisie car elle permet d'obtenir, «en temps..., A new tunnel heading survey method is presented which uses seismic techniques to characterize in three dimensions the rock in front of the tunnel face. The technique of reflection tomography was selected as this provides a high resolution "real-time" map of wave velocities in the rock. lt...

Bulletin des Laboratoires des Ponts et Chaussees, 2000, 226, pp.13-25. ⟨hal-00250441v2⟩

• Article dans une revue

Resonant tunneling between two monomode electronic waveguides

J.O. Vasseur, Abdellatif Akjouj, B. Djafari-Rouhani, Leonard Dobrzynski

Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces, 2000, 454-456, pp.428-432. ⟨10.1016/S0039-6028(00)00277-6⟩. ⟨hal-04070954⟩

• Communication dans un congrès

Caractérisations RF, microondes et millimétriques de films supraconducteurs YbaCuO

M. Achani, Nour Eddine Bourzgui, Jean-Claude Carru, A. Dégardin, A. Kreisler

6èmes Journées de Caractérisation Micro-ondes et Matériaux (JCMM 2000), Laboratoire de Génie Electrique de Paris; Association Réseau Micro-ondes Ile de France, Mar 2000, Paris, France. ⟨hal-00250451⟩

• Communication dans un congrès

Dispositifs rayonnants à 60 GHz : procédés de fabrication et applications

Ronan Sauleau, Philippe Coquet, Jacques Pinel, J.P. Daniel, T. Matsui

Sixièmes Journées de Caractérisation Micro-ondes et Matériaux, Mar 2000, Paris, France. 327-330 - 4 p. ⟨hal-00557800⟩

• Article dans une revue

A 57 GHz gaussian beam antenna for wireless broadband communications

Philippe Coquet, Ronan Sauleau, Daniel Thouroude, J.P. Daniel, T. Matsui

Electronics Letters, 2000, 36 (7), 594-596 - 3 p. ⟨hal-00557658⟩

• Communication dans un congrès

Physics of Si nanostructures

Christophe Delerue, Guy Allan, Michel Lannoo

March Meeting of the American Physical Society, Mar 2000, Minneapolis, United States. ⟨hal-03316953⟩

• Article dans une revue

Different point mutations in the met oncogene elicit distinct biological properties, Different point mutations in the met oncogene elicit distinct biological properties.

Stefano Giordano, A. Maffe, T Williams, S. Artigiani, Philippe Gual, A. Bardelli, C. Basilico, P. Michieli, P. Comoglio, T. A. Williams

The MET proto-oncogene, encoding the tyrosine kinase receptor for HGF, controls genetic programs leading to cell growth, invasiveness, and protection from apoptosis. Recently, MET mutations have been identified in hereditary and sporadic forms of papillary renal carcinoma (PRC). Introduction of...

FASEB Journal, 2000, 14 (2), pp.399-406. ⟨10.1096/fasebj.14.2.399⟩. ⟨hal-04496828⟩

• Article dans une revue

Strong isotope effects in the UV light-induced reactivation of dopants in hydrogenated or deuterated n-GaAs : Si

Jacques Chevallier, M. Barbe, M. Constant, D. Bernard-Loridant, S. Silvestre, E. Constant

Superlattices and Microstructures, 2000, 27, pp.447-452. ⟨hal-00158584⟩

• Communication dans un congrès

Optical millimeter-wave system using sub-carrier local oscillator generation

Samuel Dupont, Christophe Loyez, Jean-Pierre Vilcot, N. Haese, Didier Decoster

2000, pp.Session 3-13. ⟨hal-00158605⟩

• Article dans une revue

Formation of silicon islands on a silicon on insulator substrate upon thermal annealing

Bernard Legrand, Vincent Agache, Jean-Philippe Nys, Vincent Senez, Didier Stiévenard

Starting from silicon on insulator substrates, we show that a thermal treatment (in the 600–900 °C range) induces the creation of silicon islands. To characterize the island formation as well as the initial silicon layer thickness, we use in situ Auger electron spectroscopy analysis in an ultrahigh...

Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.3271-3273. ⟨10.1063/1.126603⟩. ⟨hal-00158537⟩