Publicaciones

• Article dans une revue

Development of a new generation of active AFM tools for applications in liquids

A.S. Rollier, D.F.L. Jenkins, El Hadj Dogheche, Bernard Legrand, M. Faucher, L. Buchaillot

Journal of Micromechanics and Microengineering, 2010, 20, pp.085010-1-11. ⟨10.1088/0960-1317/20/8/085010⟩. ⟨hal-00548990⟩

• Communication dans un congrès

Résonateurs à ondes acoustiques guidées sur miroir de Bragg pour communications radio-fréquences

Issiaka Koné, Frédéric Domingue, Alexandre Reinhardt, Fabrice Casset, Marc Aïd, Jean-François Carpentier, Lionel Buchaillot, Bertrand Dubus

Les résonateurs à ondes acoustiques de volumes (appelés résonateurs BAW pour Bulk Acoustic Wave) sont des composants particulièrement attractifs pour les communications radio-fréquences (f > 1 GHz). Ils permettent de réaliser des filtres aux performances accrues et aux encombrements et coûts...

10ème Congrès Français d'Acoustique, Apr 2010, Lyon, France. ⟨hal-00542598⟩

• Communication dans un congrès

Etude expérimentale de pseudo-modes de Lamb au voisinage d'une bande interdite d'un réseau phononique.

Maxime Bavencoffe, Bruno Morvan, Anne-Christine Hladky, Jean-Louis Izbicki

La structure étudiée est une plaque d'aluminium dont l'une des surfaces est gravée de stries triangulaires périodiquement réparties. L'ensemble des stries forme un réseau périodique de longueur limitée. Une étude par éléments finis (code ATILA) permet de déterminer les vecteurs d...

10ème Congrès Français d'Acoustique, Apr 2010, Lyon, France. ⟨hal-00550550⟩

• Article dans une revue

Metamaterials-inspired technologies applied to ultra high-frequency filtering structures

Alejandro Borja, Jorge Carbonell, Vicente Boria, Michel Chaubet, Didier Lippens

In this letter, the design and comparative study of metamaterial-inspired bandpass filters operating at G-band (150 GHz) is presented. To this aim, filters based on split ring resonators (SRRs) and complementary SRRs are studied and compared on a scale compliant with MMIC technology. Technological...

Microwave and Optical Technology Letters, 2010, 52 (8), pp.1868-1872. ⟨10.1002/mop.25300⟩. ⟨hal-00548688⟩

• Article dans une revue

Analysis of deep levels in AlGaN/GaN/Al2O3 heterostructures by CDLTS under a gate pulse

M. Gassoumi, O. Fathallah, Christophe Gaquière, H. Maaref

Physica B: Condensed Matter, 2010, 405, pp.2337-2339. ⟨10.1016/j.physb.2010.02.042⟩. ⟨hal-00549453⟩

• Article dans une revue

Quasi-monolithic heat flux microsensor based on porous silicon boxes

K. Ziouche, P. Godts, Z. Bougrioua, C. Sion, T. Lasri, D. Leclercq

Sensors and Actuators A: Physical , 2010, 164, pp.35-40. ⟨10.1016/j.sna.2010.09.015⟩. ⟨hal-00549493⟩

• Article dans une revue

Perfectly (001)- and (111)-oriented (Ba,Sr)TiO3 thin films sputtered on Pt/TiOx/SiO2/Si without buffer layers

L.H. Yang, G.S. Wang, X.L. Dong, Denis Remiens

Journal of the American Ceramic Society, 2010, 93, pp.350-352. ⟨10.1111/j.1551-2916.2009.03427.x⟩. ⟨hal-00549519⟩

• Article dans une revue

Enhanced high data rate communication system using embedded cooperative radar for intelligent transports systems

Yassin El Hillali, C. Tatkeu, P. Deloof, Laila Sakkila, Atika Rivenq, Jean-Michel Rouvaen

Transportation Research Part C: Emerging Technologies, 2010, 18, pp.429-439. ⟨10.1016/j.trc.2009.05.013⟩. ⟨hal-00549912⟩

• Article dans une revue

LP MOCVD growth of InAlN/GaN HEMT heterostructure : comparison of sapphire, bulk SiC and composite SiCopSiC substrates for HEMT device applications

M.A. Di Forte-Poisson, N. Sarazin, M. Magis, M. Tordjman, J. Di Persio, R. Langer, E. Iliopoulos, A. Georgakilas, P. Kominou, M. Guziewicz, E. Kaminska, A. Piotrowska, Christophe Gaquière, M. Oualli, E. Chartier, E. Morvan, S. Delage

Physica Status Solidi C: Current Topics in Solid State Physics, 2010, 7, pp.1317-1324. ⟨10.1002/pssc.200983114⟩. ⟨hal-00549909⟩

• Article dans une revue

Optimization of SiNX:H films deposited by PECVD for reliability of electronic, microsystems and optical applications

E. Herth, Bernard Legrand, L. Buchaillot, N. Rolland, T. Lasri

Microelectronics Reliability, 2010, 50, pp.1103-1106. ⟨10.1016/j.microrel.2010.04.011⟩. ⟨hal-00549491⟩