Publicaciones

• Communication dans un congrès

Transistors à effet de champ à base de pentacène sur oxyde de grille fonctionnalisé par monocouches auto-assemblées

K. Lmimouni, R. Bianchini, David Troadec, S. Lenfant, D. Vuillaume

Journées des Polymères Conducteurs, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126222⟩

• Communication dans un congrès

The 2D feedback conveyance with ciliary actuator arrays

M. Ataka, Bernard Legrand, L. Buchaillot, D. Collard, H. Fujita

2005, pp.31-34. ⟨hal-00125659⟩

• Communication dans un congrès

Thickness dependent morphology and resistivity of ultra-thin Al films on Si(111) by molecular beam expitaxy

D.K. Aswal, N. Joshi, A.K. Debnath, S.K. Gupta, D. Vuillaume, J.V. Yakhmi

Trends in NanoTechnology, TNT 2005, 2005, Oviedo, Spain. ⟨hal-00125603⟩

• Communication dans un congrès

Optical gating of polymer-coated carbon nanotube transistors

J. Borghetti, S. Lenfant, Vincent Derycke, P. Chenevier, A. Filoramo, M. Goffman, D. Vuillaume, J.P. Bourgoin

ElecMol'05, 2005, Grenoble, France. ⟨hal-00125606⟩

• Article dans une revue

Experimental evidence of backward wave on terahertz left-handed transmision lines

T. Crepin, Jean-Francois Lampin, T. Decoopman, X. Melique, L. Desplanque, D. Lippens

Applied Physics Letters, 2005, 87, pp.104105-1-3. ⟨hal-00125345⟩

• Article dans une revue

Modeling and experimental validation of sharpening mechanism based on thermal oxidation for fabrication of ultra-sharp silicon nanotips

Vincent Agache, Roger Ringot, Patrice Bigotte, Vincent Senez, Bernard Legrand, Lionel Buchaillot, Dominique Collard

This paper aims at modeling the thermal oxidation of silicon pillars leading to the formation of very sharp silicon tips. The model is used to determine optimum process parameters with respect to the initial shape of the silicon pillars and the geometry of the desired tip. The modeling concept is...

IEEE Transactions on Nanotechnology, 2005, 4, pp.548-556. ⟨10.1109/TNANO.2005.851386⟩. ⟨hal-00125632⟩

• Communication dans un congrès

Characterization of vertical vibration of electrostatically actuated resonators using Atomic Force Microscope in noncontact mode

Vincent Agache, Bernard Legrand, K. Nakamura, H. Kawakatsu, Lionel Buchaillot, Hiroshi Toshiyoshi, Dominique Collard, Hiroyuki Fujita

Non contact mode atomic force microscope (AFM) direct characterization of out-of-plane fixed-fixed high frequency microelectromechanical resonators is examined while applying the excitation voltage to integrated electrostatic transducers. Non contact mode is rather used than contact mode in order...

The 13th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems, 2005, Jun 2005, Seoul, South Korea. pp.2023-2026, ⟨10.1109/SENSOR.2005.1497499⟩. ⟨hal-00125631⟩

• Autre publication scientifique

Etude de faisabilité de circuits pour systèmes de communication en bande millimétrique, en technologie BiCMOS SiGeC 0,13 µm

S. Pruvost

2005. ⟨hal-00126188⟩

• Communication dans un congrès

Composition modulation and local structure in strained diluted GaInNAs nitride alloy thin layers

C. Priester, A. Metsue

2005, pp.0891-EE10-29.1 - 0891-EE10-29.6. ⟨hal-00126205⟩

• Communication dans un congrès

Jonctions silicium-molécules-métal réalisées par nanotransfer printing : synthèse chimique et propriétés électriques

David Guérin, C. Merckling, S. Lenfant, D. Vuillaume

Journées des Polymères Conducteurs, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00126221⟩