Publicaciones

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  • Article dans une revue

Depth dependence of defect evolution and TED during annealing

B. Colombeau, N.E.B. Cowern, Fuccio Cristiano, P. Calvo, Y. Lamrani, Nikolay Cherkashin, E. Lampin, Alain Claverie

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2004, 216, pp.90-94. ⟨hal-00140976⟩

  • Communication dans un congrès

Reliability of polycrystalline MEMS : prediction of the debugging-time

O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2004, 2004, Worcester, MA, United States. ⟨hal-00141030⟩

  • Article dans une revue

Broadband frequency filtering and mode matching using finline technology

T. Decoopman, X. Melique, O. Vanbésien, D. Lippens

Microwave and Optical Technology Letters, 2004, 41, pp.234-7. ⟨hal-00133953⟩

  • Communication dans un congrès

100nm InAlAS/InGaAs double-gate HEMT using transferred substrate

Nicolas Wichmann, I. Duszynski, S. Bollaert, J. Mateos, X. Wallart, A. Cappy

2004, pp.1023-1026. ⟨hal-00133886⟩

  • Communication dans un congrès

Design of K-band distributed amplifiers using FB and BC MOS

C. Pavageau, M. Si Moussa, A. Siligaris, L. Picheta, Francois Danneville, J.P. Raskin, D. Vanhoenaker-Janvier, J. Russat, N. Fel

MEDEA+ T206 SOI Workshop, 2004, Crolles, France. ⟨hal-00133902⟩

  • Communication dans un congrès

DC & AC characterization and modeling of N & P SOI MOSFET

C. Pavageau, A. Siligaris, L. Picheta, Francois Danneville, Gilles Dambrine, J. Russat, N. Fel

MEDEA+ T206 SOI Workshop, 2004, Crolles, France. ⟨hal-00133901⟩

  • Chapitre d'ouvrage

L'électronique moléculaire

J.P. Bourgoin, M. Goffman, A. Filoramo, D. Vuillaume

LAHMANI M., DUPAS C., HOUDY P. Les nanosciences 1 - Nanotechnologies et nanophysique, Belin, Paris, France, pp.400-449, 2004. ⟨hal-00131398⟩