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Origin of fluid streaming in low-frequency sonoreactors
Bertrand Dubus, C. Campos-Pozuelo, A. Moussatov, C. Granger, P. Mosbah, C. Vanhille
Proceedings of the 4th Conference on the Applications of Power Ultrasound in Physical and Chemical Processing, 2003, Besançon, France. ⟨hal-00145974⟩
Amélioration du fmax des HEMTs InAlAs/InGaAs sur substrat d'InP de longueur de grille 70nm par optimisation de la structure de couche
I. Duszynski, T. Parenty, S. Bollaert, H. Happy, J. Mateos, X. Wallart, A. Cappy
2003, pp.2B1-1. ⟨hal-00145993⟩
Optical transitions in few-electron artificial atoms strongly confined in ZnO nanocrystals
Alexander Germeau, Aarnoud L. Roest, Daniel Vanmaekelbergh, Guy Allan, Christophe Delerue, Eric A. Meulenkamp
Physical Review Letters, 2003, 90, pp.097401/1-4. ⟨10.1103/PhysRevLett.90.097401⟩. ⟨hal-00146610⟩
Caractérisation non destructive d'un profil d'humidité à 2.45 GHz et technique de déconvolution aveugle associée
D. Glay, T. Lasri
2003, pp.6D-13. ⟨hal-00146064⟩
An overview of low noise devices and associated circuits for 100-200 GHz space applications
Gilles Dambrine, T. Parenty, S. Bollaert, H. Happy, A. Cappy, N. Tapani, J.C. Orlhac, M. Trier, P. Baudet, P. Landry
11th European Gallium Arsenide and Other Semiconductor Application Symposium, GAAS 2003, 2003, Munchen, Germany. ⟨hal-00146047⟩
Low frequency drain noise comparison of AlGaN/GaN HEMTs grown on silicon, SiC and sapphire substrates
A. Curutchet, N. Malbert, N. Touboul, Christophe Gaquière, A. Minko, M. Uren
Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1713-1718. ⟨hal-00146665⟩
Détermination des paramètres limitant la montée des MOSFETs sub-100nm
M. Vanmackelberg, Sylvie Lepilliet, C. Raynaud, M. Dehan, Gilles Dambrine
2003, pp.1D-5. ⟨hal-00145999⟩
Composants balistiques pour applications térahertz
S. Bollaert, Yannick Roelens, Jean-Sebastien Galloo, Isabelle Huynen, Hervé Boutry, Javier Mateos
GDR Nanoélectronique : 1ères Journées Nationales Composants pour la micro et nano-électronique, 4èmes Journées Nationales Hétérostructures de semiconducteurs IV-IV, 2003, Grenoble, France. ⟨hal-00146019⟩
Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : quantitative charge measurements and dipole-dipole interactions
Thierry Melin, H. Diesinger, D. Deresmes, D. Stiévenard
12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM'03, 2003, Eindhoven, Netherlands. ⟨hal-00146614⟩
HEMT métamorphique pour applications de puissance en bande V : influence de la couche de barrière
B. Bonte, M. Ardouin, M. Zaknoune, D. Theron, Y. Cordier, S. Bollaert, Jean-Claude de Jaeger
2003, pp.4A2-2. ⟨hal-00146696⟩