Publicaciones

Affichage de 14601 à 14610 sur 16103


  • Communication dans un congrès

Etude par EFM des propriétés de charge d'ilots semiconducteurs de taille nanométrique

Thierry Melin, D. Deresmes, D. Stievenard

Forum des microscopies à sonde locale, 2002, Spa, Belgique. ⟨hal-00149683⟩

  • Communication dans un congrès

Outils théoriques pour la structure électronique

Christophe Delerue, Guy Allan, Michel Lannoo, Christophe Krzeminski, Yann-Michel Niquet

Ecole thématique sur les nitrures, 2002, La Plagne, France. ⟨hal-00149679⟩

  • Article dans une revue

Electronic structure of layer compounds GaSe and InSe in a tight binding approach

M.O.D. Camara, A. Mauger, I. Devos

Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2002, 65, pp.125206/1-12. ⟨hal-00149670⟩

  • Article dans une revue

Effects of high temperature on the electrical behavior of AlGaN/GaN HEMTs

Y. Guhel, B. Boudart, Virginie Hoel, M. Werquin, Christophe Gaquière, Jean-Claude de Jaeger, M.A. Poisson, I. Daumiller, E. Kohn

Microwave and Optical Technology Letters, 2002, 34, pp.4-6. ⟨hal-00149695⟩

  • Communication dans un congrès

MBE growth of high quality AlGaN/GaN HEMTs on resistive Si(111) substrate with RF small signal and power performances

Y. Cordier, F. Semond, P. Lorenzini, N. Grandjean, F. Natali, B. Damilano, J. Massies, Virginie Hoel, A. Minko, N. Vellas, Christophe Gaquière, Jean-Claude de Jaeger, B. Dessertenne, S. Cassette, Et Al.

2002, pp.99-100. ⟨hal-00149696⟩

  • Communication dans un congrès

Photoréception optique sans préamplification électrique : projet RNRT POPEYE

Vincent Magnin, Joseph Harari, Didier Decoster, Mohand Achouche, Stéphane Demiguel, N. Michel, J. Lehoux, N. Vodjanie

9èmes Journées Nationales Microélectronique et Optoélectronique, JNMO 2002, 2002, St Aygulf, France. ⟨hal-00149652⟩

  • Article dans une revue

S. Carnot’s Réflexions: a theory based on non–classical Logic

Antonino Drago, Raffaele Pisano

Bulletin of Symbolic Logic, 2002, 8 (131), pp.131-132. ⟨hal-04508058⟩

  • Article dans une revue

Influence of the step covering on fatigue phenomenon for polycrystalline silicon micro-electro-mechanical-systems (MEMS)

O. Millet, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

Japanese Journal of Applied Physics, part 2 : Letters, 2002, 41, pp.L1339-L1341. ⟨hal-00250391⟩