Publicaciones
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Outils théoriques pour la structure électronique
Christophe Delerue, Guy Allan, Michel Lannoo, Christophe Krzeminski, Yann-Michel Niquet
Ecole thématique sur les nitrures, 2002, La Plagne, France. ⟨hal-00149679⟩
Rectifying molecular diodes from self-assembly on silicon
S. Lenfant, Christophe Krzeminski, C. Delerue, D. Vuillaume
Electronic Materials Conference, 2002, Santa Barbara, CA, United States. ⟨hal-00148725⟩
Current rectification from sigma-pi self-assembled monolayers on silicon
S. Lenfant, Christophe Krzeminski, C. Delerue, D. Vuillaume
5th International Conference on Functionalized n-electron Systems, 2002, Ulm, Germany. ⟨hal-00148709⟩
Conception et réalisation d'un séparateur acousto-optique de polarisation
A. Sakkour
2002. ⟨hal-00162705⟩
From nanoelectronics to nanotechnology
Emmanuel Dubois
Belgian Journal of Electronics & Communications HF, 2002, 3, pp.9-16. ⟨hal-00250387⟩
On the physical interest of some numerical methods for wave phase conjugation in active media
A. Merlen, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod
2002, pp.208. ⟨hal-00148692⟩
High power performances of AlGaN/GaN HEMTs on sapphire substrate at F=4 GHz
N. Vellas, Christophe Gaquière, Y. Guhel, M. Werquin, D. Ducatteau, B. Boudart, Jean-Claude de Jaeger, Z. Bougrioua, Marie Germain, M. Leys, I. Moervan, S. Borghs
2002, 4 pp. ⟨hal-00149700⟩
Analyse physique des HEMTs à base de nitrure de gallium
M. Elkhou, Michel Rousseau, Jean-Claude de Jaeger
GDR Semiconducteurs à large bande interdite, 2002, Montpellier, France. ⟨hal-00149718⟩
High linearity performance of gallium nitride HEMT devices on silicon substrate at 4 GHz
Nicolas Vellas, Christophe Gaquière, Yannick Guhel, Matthieu Werquin, Frédéric Bue-Erkmen, Sylvain Laurent Delage, B. Boudart, Fabrice Semond, Jean-Claude de Jaeger
IEEE Electron Device Letters, 2002, 23 (8), pp.461-463. ⟨10.1109/LED.2002.801328⟩. ⟨hal-00149698⟩
Détection d'obstacles devant les véhicules de transports guidés. Utilisation d'un radar coopératif et d'un stéréoscope optique
L. Khoudour, S. Ambellouis, C. Vieren, P. Deloof
Instrumentation, Mesure, Métrologie, 2002, 2, pp.81-116. ⟨hal-00149879⟩