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  • Communication dans un congrès

Caractérisation électromagnétique de cristaux liquides à partir de lignes plaquées

Bertrand Splingart, Nicolas Tentillier, J. Hinojosa, F. Huret, Jean-Claude Carru, Christian Legrand

6èmes Journées Caractérisation Micro-ondes et Matériaux - JCMM'2000, Laboratoire de Génie Electrique de Paris; Association Réseau Micro-ondes Ile de France, Mar 2000, Paris, France. ⟨hal-00158480⟩

  • Article dans une revue

Ridged waveguide to microstrip transition for electromagnetic characterization of materials in V-band.

J. Hinojosa, J.F. Kruck, Gilles Dambrine

Electronics Letters, 2000, 36, pp.1468-1470. ⟨hal-00158472⟩

  • Communication dans un congrès

La spectroscopie STM : application à l'étude de molécules organiques sur silicium ou de défauts ponctuels dans les semi-conducteurs

D. Stievenard

Journée Surfaces et Interfaces, JSI 2000, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158965⟩

  • Communication dans un congrès

Growth of strained Ga1-xInxP layers on GaP (001) by gas source molecular beam epitaxy : similarities and differences with the growth of strained arsenides

X. Wallart, D. Deresmes, F. Mollot

2000, pp.255-259. ⟨hal-00158443⟩

  • Communication dans un congrès

Confinement quantique dans des nanocristaux de silicium et de germanium

Yann-Michel Niquet, Christophe Delerue, Guy Allan, Michel Lannoo

7èmes Journées de la Matière Condensée, 2000, Poitiers, France. ⟨hal-00158950⟩

  • Communication dans un congrès

Nature of impurity states in amorphous silicon

Guy Allan, Christophe Delerue, Michel Lannoo

CECAM Workshop on Electronic and Optical Properties of Semiconducting Glasses, 2000, Lyon, France. ⟨hal-00158966⟩

  • Communication dans un congrès

From porous silicon to semiconductor quantum dots

Guy Allan, Christophe Delerue, Michel Lannoo

Zhong Guan Cun for Condensed Matter Physics, 2000, Beijing, China. ⟨hal-00158971⟩

  • Communication dans un congrès

Modélisation des défauts étendus pour la diffusion transitoire accélérée du bore

E. Lampin, V. Senez, Alain Claverie

1ère Journée Nationale Impuretés et Défauts dans les Composants Ultimes, GDR Nanoélectronique : du silicium à la molécule, 2000, Orsay, France. ⟨hal-00158540⟩