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Communication dans un congrès

High transconductance AlGaN/GaN HEMT with thin barrier on Si(111) substrate

F. Lecourt, Y. Douvry, N. Defrance, Virginie Hoel, Jean-Claude de Jaeger, S. Bouzid, M. Renvoise, D. Smith, H. Maher

40th European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2010, 2010, Spain. pp.281-284, ⟨10.1109/ESSDERC.2010.5618362⟩. ⟨hal-00549999⟩

Communication dans un congrès

Calculs de champs acoustiques à l'harmonique 2 par décomposition en faisceaux gaussiens

François Vander Meulen, Lionel Haumesser, Jérôme Fortineau, Olivier Bou Matar

Dans le cadre de l'approximation quasi-linéaire, une solution de l'équation KZK peut être obtenue par la méthode des approximations successives qui, dans ce cas,peut être obtenue par la convolution de la fonction source et d'une fonction de Green de forme gaussienne. Wen et Breazeale...

10ème Congrès Français d'Acoustique, Apr 2010, Lyon, France. ⟨hal-00539678⟩

Article dans une revue

Development of Time-resolved UV Micro-Raman Spectroscopy to measure temperature in AlGaN/GaN HEMTs

Ophélie Lancry, Emmanuelle Pichonat, Julien Réhault, Myriam Moreau, Raphaël Aubry, Christophe Gaquière

We report on the development of Time-resolved Ultraviolet Micro-Raman Scattering to measure transient self-heating effects in semiconductor devices. Temperature measurements are performed on AlGaN/GaN High-electron-mobility transistors (HEMTs) grown on SiC substrate. Ultraviolet excitation probes...

Solid-State Electronics, 2010, 54, pp.1434 - 1437. ⟨10.1016/j.sse.2010.05.029⟩. ⟨hal-00514166⟩

Article dans une revue

Materials selection procedure for RF-MEMS

G. Guisbiers, E. Herth, Bernard Legrand, N. Rolland, T. Lasri, L. Buchaillot

Microelectronic Engineering, 2010, 87, pp.1792-1795. ⟨10.1016/j.mee.2009.10.016⟩. ⟨hal-00549627⟩

Chapitre d'ouvrage

Electrostatic force microscopy and Kelvin force microscopy as a probe of the electrostatic and electronic properties of carbon nanotubes

Thierry Melin, Mariusz Zdrojek, David Brunel

This chapter addresses recent experimental studies on carbon nanotubes and nanotube devices using electrical techniques derived from atomic force microscopy. Electrostatic force microscopy (EFM), Kelvin force microscope (KFM), and their variants are introduced. We show how EFM-related techniques...

B. Bhushan. Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology, Springer, chapitre 4, 89-128, 2010, ⟨10.1007/978-3-642-03535-7_4⟩. ⟨hal-00575864⟩

Chapitre d'ouvrage

Fibres optiques multimodales

Christophe Lethien, Christophe Loyez

Cet article porte sur les fibres optiques multimodales à gradient d'indice, utilisées dans les domaines de l'électronique numérique et des radiofréquences, au sein de réseaux locaux. Cette présentation décrit les matériaux et les procédés de fabrication de ces fibres optiques multimodales...

Techniques de l'Ingénieur, Collection Electronique, TI Sciences et Techniques, Paris, France, Dossier E3600, 24 p., 2010, ⟨10.51257/a-v1-e3600⟩. ⟨hal-00575812⟩