Publicaciones

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  • Communication dans un congrès

Carbon nanotube programmable devices : toward circuits with learning capabilities

Guillaume Agnus, David Brunel, Karim Gacem, Weisheng Zhao, Arianna Filoramo, Stéphane Lenfant, Dominique Vuillaume, Christian Gamrat, Jean-Philippe Bourgoin, Vincent Derycke

5th International Meeting on Molecular Electronics, ElecMol'10, 2010, Grenoble, France. ⟨hal-00574085⟩

  • Communication dans un congrès

Dynamique de relaxation dans les jonctions moléculaires organiques

N. Clement, S. Pleutin, David Guérin, D. Vuillaume

12èmes Journées de la Matière Condensée, JMC12, 2010, Troyes, France. ⟨hal-00574086⟩

  • Communication dans un congrès

Performance en terme de bruit vers bande passante d'un microscope Kelvin mode détection de fréquence (FM-KFM)

H. Diesinger, D. Deresmes, J.P. Nys, Thierry Melin

Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2010, Mittelwihr, France. ⟨hal-00574421⟩

  • Communication dans un congrès

On the appearance of metastable vortex state in ferroelectrics oxides, or how interfaces can change the type of polar state and the switching mechanism

L. Baudry, A. Sene, Igor A. Luk'Yanchuk, L. Lahoche

European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium E : Frontiers of multifunctional oxides, 2010, Strasbourg, France. ⟨hal-00574448⟩

  • Ouvrages

Etude théorique de nanofils semi-conducteurs

M. Diarra, C. Delerue, Y.M. Niquet

Editions Universitaires Européennes, pp.144, 2010. ⟨hal-00575766⟩

  • Communication dans un congrès

General solutions to the contact problem of two spheres with friction

Vladislav Aleshin, Koen van den Abeele

15th International Conference on Nonlinear Elasticity in Materials, ICNEM 2010, 2010, Otranto, Italy. ⟨hal-00819459⟩

  • Article dans une revue

Testing the temperature limits of GaN-based HEMT devices

D. Maier, M. Alomari, N. Grandjean, J.F. Carlin, M.A. Di Forte-Poisson, C. Dua, A. Chuvilin, David Troadec, Christophe Gaquière, U. Kaiser, S.L. Delage, E. Kohn

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2010, 10, pp.427-436. ⟨10.1109/TDMR.2010.2072507⟩. ⟨hal-00579038⟩