Publications

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  • Article dans une revue

Simulation and visualization of loudspeaker's sound fields

A. Kaddour, Jean-Michel Rouvaen, M.F. Belbachir

Technical Acoustics, 2003, 21, pp.1-7. ⟨hal-00147100⟩

  • Article dans une revue

Performance analysis of wide band MC-CDMA

Merahi Bouziani, Ali Djebbari, Jean-Michel Rouvaen, Mohammed F. Belbachir

Technical Acoustics, 2003, 4, pp.1-8. ⟨hal-00147091⟩

  • Communication dans un congrès

Influence de la température sur les caractéristiques pulsées statiques et hyperfréquences des HEMTs AlGaN/GaN sur substrat silicium résistif (111)

M. Werquin, Christophe Gaquière, N. Vellas, E. Delos, D. Ducatteau, Y. Cordier, S. Delage, Jean-Claude de Jaeger

2003, pp.1D-13. ⟨hal-00146691⟩

  • Communication dans un congrès

Accordabilité d'un circuit microonde par adjonction d'un substrat cristal liquide

Nicolas Tentillier, Bertrand Splingart, Erick Paleczny, Jean-François Legier, Christian Legrand

Treizièmes Journées Nationales Micro-ondes (JNM 2003), May 2003, Lille, France. pp.3D-4. ⟨hal-00146562⟩

  • Communication dans un congrès

Ultimate technology for micromachining of nanometric gap HF micromechanical resonators

E. Quevy, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

2003, pp.157-160. ⟨hal-00146462⟩

  • Communication dans un congrès

Relation between thermal evolution of interstitial defects and transient enhanced diffusion in silicon

Alain Claverie, Fuccio Cristiano, B. Colombeau, Xavier Hebras, P. Calvo, Nikolay Cherkashin, Y. Lamrani, E. Scheid, B. de Mauduit

2003, pp.73. ⟨hal-00146421⟩

  • Article dans une revue

Actionneurs films minces pour contrôle santé de structures

E. Fribourg-Blanc, M. Dupont, D. Osmont, Eric Cattan, Denis Remiens

Instrumentation, Mesure, Métrologie, 2003, 3, pp.225-237. ⟨hal-00146476⟩

  • Communication dans un congrès

Self-assembled molecular rectifying diodes on silicon : synthesis, experimental and theoretical charge transport studies

Dominique Vuillaume, Stéphane Lenfant, Christophe Krzeminski, Guy Allan, Christophe Delerue

226th American Chemical Society National Meeting - Fall 2003, Sep 2003, New York, NY, United States. ⟨hal-00146383⟩

  • Communication dans un congrès

Techniques for mechanical strain analysis in submicron structures : TEM/CBED, micro-Raman spectroscopy, X-RAY micro-diffraction and modelling

I. de Wolf, V. Senez, S. Lagomarsino, A. Armigliato

Proceedings of the 2003 European Workshop on Materials for Advanced Metallization, MAM 2003, 2003, La Londe les Maures, France. ⟨hal-00146413⟩