Publications

• Communication dans un congrès

Admittance model of metal/insulator/organic semiconductor capacity

R. Ledru, D. Zander, B. Grouiez, K. Lmimouni, D. Vuillaume, G. Gelle

International Conference on Organic Electronics, ICOE 2010, 2010, Paris, France. ⟨hal-00574078⟩

• Communication dans un congrès

Frequency response of metal/insulator/organic semiconductor/metal structure. Influence of the self assembled monolayer

D. Zander, K. Lmimouni, B. Grouiez, R. Ledru, S. Lenfant, D. Vuillaume

5th International Meeting on Molecular Electronics, ElecMol'10, 2010, Grenoble, France. ⟨hal-00574103⟩

• Communication dans un congrès

Array of gold nano-dots for electron transport study in molecular electronics

N. Clement, K. Smaali, G. Patriarche, David Troadec, D. Vuillaume

Session thématique champ proche du GDR 2426, Physique quantique mésoscopique, 2010, Paris, France. ⟨hal-00574050⟩

• Communication dans un congrès

Etude d'une cellule métal/oxyde/pentacène/métal par spectroscopie d'admittance

R. Ledru, D. Zander, B. Grouiez, K. Lmimouni, D. Vuillaume, G. Gelle

4ème Congrès sur les Dispositifs Electroniques Organiques, DIELOR 2010, 2010, Giens, France. ⟨hal-00574077⟩

• Communication dans un congrès

Comment aborder en pédagogie l'aspect 'système' d'une chaîne télécom ?

Guillaume Ducournau, Christophe Gaquière, T. Flamen

11èmes Journées Pédagogiques du CNFM, 2010, Saint-Malo, France. ⟨hal-00573579⟩

• Communication dans un congrès

Développement de capteurs interdigités pour la caractérisation de couches sur substrat

Julien Deboucq, Marc Duquennoy, Mohammadi Ouaftouh, Frédéric Jenot, Julien Carlier, Mohamed Ourak

Les ondes acoustiques de surface (SAW), dont l'utilisation n'est pas récente et les applications variées, sont un candidat idéal pour la caractérisation de structures de type plaque ou couche sur substrat et le contrôle non destructif de celles-ci. Cependant, les transducteurs à coins…

10ème Congrès Français d'Acoustique, Apr 2010, Lyon, France. ⟨hal-00546827⟩

• Article dans une revue

An organic nanoparticle transistor behaving as a biological spiking synapse

F. Alibart, S. Pleutin, David Guérin, C. Novembre, S. Lenfant, K. Lmimouni, C. Gamrat, D. Vuillaume

Molecule-based devices are envisioned to complement silicon devices by providing new functions or by implementing existing functions at a simpler process level and lower cost, by virtue of their self-organization capabilities. Moreover, they are not bound to von Neuman architecture and this feature…

Advanced Functional Materials, 2010, 20, pp.330-337. ⟨10.1002/adfm.200901335⟩. ⟨hal-00548959⟩

• Article dans une revue

Image reconstruction using a photonic crystal based flat lens operating at 1.55 μm

M. Hofman, D. Lippens, O. Vanbesien

Applied optics, 2010, 49, pp.5806-5813. ⟨10.1364/AO.49.005806⟩. ⟨hal-00548625⟩

• Article dans une revue

Synthesis of compact and highly selective filters via metamaterial-inspired coplanar waveguide line technologies

Alejandro Borja, Jorge Carbonell, Vicente Boria, Joaquin Cascon, Didier Lippens

In this study, two split ring resonator-based coplanar waveguide cells operating in C-band are studied. Particularly, the lines have been loaded with double shunt strips or series gaps. The use of double strips allows controlling the electric plasma frequency, and at the same time permits one to…

iet microwaves, Antennas & Propagation, 2010, 4 (8), pp.1098-1104. ⟨10.1049/iet-map.2009.0583⟩. ⟨hal-00548690⟩

• Article dans une revue

Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications

J. Ratajczak, A. Laszcz, A. Czerwinski, J. Katcki, F. Phillipp, P.A. van Aken, N. Reckinger, Emmanuel Dubois

In this paper, we present results of transmission electron microscopy studies on erbium silicide structures fabricated under various thermal conditions. A titanium cap has been used as a protective layer against oxidation during rapid thermal annealing of an erbium layer in a temperature range of…

Journal of Microscopy, 2010, EM 2008 ‐ XIII International Conference on Electron Microscopy, 237 (3), pp.379-383. ⟨10.1111/j.1365-2818.2009.03264.x⟩. ⟨hal-00549623⟩