Publications

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  • Chapitre d'ouvrage

Application of PZT-film-Si-substrate structures for various types of position sensitive pyroelectric detectors of radiation

S. Bravina, Eric Cattan, N. Morozovsky, Denis Remiens

Pandalai S.G. Recent Research Developments in Applied Physics, Vol. 7, Part I, Research Signpost, Kerala, India, pp.177-196, 2004. ⟨hal-00139043⟩

  • Communication dans un congrès

Self-assembled molecular diodes on silicon

S. Lenfant, C. Merckling, David Guérin, D. Vuillaume, F. Tran Van, C. Chevrot

Ultimate Lithography and Nanodevice Engineering, 2004, Agelonde, France. ⟨hal-00140751⟩

  • Communication dans un congrès

Caractérisation de films d'alcènes greffés sur des surfaces Si(111) par analyse XPS résolue angulairement

X. Wallart, C. Henry de Villeneuve, P. Allongue

2004, pp.152-157. ⟨hal-00140723⟩

  • Communication dans un congrès

Silicon-molecules-metal junctions by nanotransfer printing

C. Merckling, David Guérin, S. Lenfant, D. Vuillaume

French-Japan Workshop on Nanomaterials, 2004, Bordeaux, France. ⟨hal-00140758⟩

  • Communication dans un congrès

Modelisation et simulation de la technlogie MOS ultimes

E. Lampin, Christophe Krzeminski, T. Alkalin, V. Cuny

GDR Nanoélectronique, 2004, Aussois, France. ⟨hal-00140992⟩

  • Article dans une revue

Depth dependence of defect evolution and TED during annealing

B. Colombeau, N.E.B. Cowern, Fuccio Cristiano, P. Calvo, Y. Lamrani, Nikolay Cherkashin, E. Lampin, Alain Claverie

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2004, 216, pp.90-94. ⟨hal-00140976⟩

  • Communication dans un congrès

Transistor MOSFET Schottky en régime nanométrique

G. Larrieu, Emmanuel Dubois

Journées Nationales Nanoélectronique, 2004, Aussois, France. ⟨hal-00140994⟩

  • Communication dans un congrès

Evaluation of electrical impedance spectra for single biocells in microfluidic devices using combined FEMLAB/ HSPICE simulated models

V. Senez, T. Yamamoto, B. Poussard, T. Fukuba, J.M. Capron, T. Fujii

2004, pp.99-102. ⟨hal-00141012⟩

  • Communication dans un congrès

Reliability of polycrystalline MEMS : prediction of the debugging-time

O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2004, 2004, Worcester, MA, United States. ⟨hal-00141030⟩