Publications

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  • Communication dans un congrès

Sur la signification des valeurs du module d'Young déterminé par nanoindentation dans le cas des matériaux ferroélectriques

Patrick Delobelle, Olivier Guillon, E. Fribourg-Blanc, Caroline Soyer, Denis Remiens

2004. ⟨hal-00020033⟩

  • Article dans une revue

Two Young modulus of Pb(Zr,Ti)03 thin films measured by nanoindentation

Patrick Delobelle, Olivier Guillon, E. Fribourg-Blanc, Caroline Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens

Applied Physics Letters, 2004, 85(22), pp. 1-3. ⟨hal-00019767⟩

  • Communication dans un congrès

Design and fabrication of miniature and monolithic transducers

Anne-Christine Hladky, R.E. Newnham, D.C. Markley, R.J. Meyer, J.K. Cochran

International Conference on Material Technology and Design of Integrated Piezoelectric Devices, 2004, Courmayeur, Italy. ⟨hal-00250170⟩

  • Communication dans un congrès

Fabrication and creep behavior of SiCN(O) nanocomposites

Mohamed Amara, R. Dez, Sylvie Foucaud, D. Bahloul-Hourlier, P. Goursat, Nathalie Herlin-Boime

4th International Symposium on Nitrides, 2004, Belgium. pp.281-285. ⟨hal-00248025⟩

  • Communication dans un congrès

LP-MOCVD growth of GaAlN/GaN heterostructures on silicon carbide. Application to HEMT's devices

Marie-Antoinette Di Forte-Poisson, M. Magis, Maurice Tordjman, Raphaël Aubry, Nicolas Sarazin, M. Peschang, Erwan Morvan, Sylvain Laurent Delage, J. Di Persio, Raymond Quéré, B. Grimbert, Virginie Hoel, E. Delos, Damien Ducatteau, Christophe Gaquière

This paper reports on the LP-MOCVD growth optimisation of GaAlN/GaN heterostructures grown on Silicon Carbide substrates for HEMT applications, and on the first device performances obtained with these structures. The critical impact of some growth parameters on the physical properties of the GaAlN/…

The Twelfth International Conference on Metalorganic Vapor Phase Epitaxy (ICMOVPE-XII), May 2004, Lahina, United States. pp.107-112, ⟨10.1557/PROC-798-Y10.26⟩. ⟨hal-00162796⟩

  • Article dans une revue

Safety analysis method of a system exposed to electromagnetic risks

B. Demoulin, R. Kassi, D. Degardin, J. Baudet

La Revue de l'électricité et de l'électronique, 2004, 8, pp.57-63. ⟨hal-00162795⟩

  • Communication dans un congrès

Bruit dans les nouveaux composants et matériaux ou bruit fiabilité

Jean-Guy Tartarin, Geoffroy Soubercaze-Pun, Abdelali Rennane, Laurent Bary, Robert Plana, Jean-Claude de Jaeger, S. Delage, Jacques Graffeuil

Workshop Action Spécifique Bruit : Bruit en régime linéaire et non-linéaire dans les composants et circuits de télécommunications, 2004, La Grande Motte, France. ⟨hal-00141964⟩

  • Autre publication scientifique

Réalisation et caractérisation de composants bistables organiques pour adressage d'écrans plats

D. Tondelier

2004. ⟨hal-00162784⟩