Publications
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Propriétés hyperfréquences et de bruit de MOSFETs sur substrat massif et SOI jusqu'au nœud technologique 65 nm
G. Pailloncy
2005. ⟨hal-00126200⟩
Contribution à l'épitaxie d'hétérostructures à base de semi-conducteurs III-V phosphorés
X. Wallart
2005. ⟨hal-00126208⟩
Mesures électro-optiques THz par échantillonnage Franz-Keldysh subpicoseconde
L. Desplanque, Jean-Francois Lampin, F. Mollot
7èmes Journées des Phénomènes Ultra-rapides, 2005, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-00126207⟩
Resonating piezoelectric membranes for microelectromechanically based bioassay: detection of streptavidin–gold nanoparticles interaction with biotinylated DNA
Liviu Nicu, M. Guirardel, F. Chambosse, P. Rougerie, S. Hinh, E. Trevisiol, J.M. Francois, Jean Pierre Majoral, A.M. Caminade, Eric Cattan, C. Bergaud
Sensors and Actuators B: Chemical, 2005, 110, pp.125-136. ⟨hal-00130821⟩
Apodized filters on InP-material ridge waveguides using sampled Bragg gratings
S. Garidel, Jean-Pierre Vilcot, Didier Decoster
2005, pp.121. ⟨hal-00130829⟩
Optical summation of microwave signals
G. Ulliac, N. Breuil, C. Fourdin, P. Nicole, Jean-Pierre Vilcot, Didier Decoster, J. Chazelas
NEFERTITI Workshop on Millimetre Wave Photonic Devices and Technologies for Wireless and Imaging Applications, 2005, Bruxelles, Belgium. ⟨hal-00130838⟩
Effet du désordre dans un démultiplexeur nanométrique plasmonique
Maxime Beaugeois, Abdellatif Akjouj, Bahram Djafari-Rouhani, Jerome O. Vasseur, Yan Pennec, Mohamed Bouazaoui, Jean-Pierre Vilcot, Sophie Maricot, J.P. Vigneron, L. Dobrzynski
Congrès Général de la Société Française de Physique et de la Belgian Physical Society, Aug 2005, Lille, France. ⟨hal-00130845⟩
HEMTs with InP and InAsP channel for 94 GHz applications
D. Theron, F Medjdoub, M. Zaknoune, Christophe Gaquière, X. Wallart
14th European Workshop on Heterostructure Technology, HeTech'05, 2005, Smolenice, Slovakia. ⟨hal-00126469⟩
Empirical MOSFET modelling for RF circuit design
A. Siligaris, Gilles Dambrine, F. Sischka, Francois Danneville
2005, 4 pp. ⟨hal-00147493⟩
Determination by nanoindentation method of sputtered PZT films mechanical parameters for Si-MEMS applications
Patrick Delobelle, E. Fribourg-Blanc, Olivier Guillon, S. Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens
Integr. Ferroelectrics, 2005, 69, pp. 213-221. ⟨hal-00019721⟩