Publications

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  • Communication dans un congrès

Théorie du transport électronique d'une diode moléculaire à base de quinolinium tricyanoquinodimethanide

Christophe Krzeminski, Christophe Delerue, Dominique Vuillaume, Guy Allan

7èmes Journées de la Matière Condensée, 2000, Poitiers, France. ⟨hal-00158948⟩

  • Communication dans un congrès

Organisation et propriétés électroniques de monocouches d'alkylsiloxanes fonctionnalisées par des groupements conjugués

S. Lenfant, J. Collet, D. Vuillaume, A. Bouloussa, F. Rondelez, J. Gay, K. Kham, C. Chevrot

7èmes Journées de la Matière Condensée, 2000, Poitiers, France. ⟨hal-00158947⟩

  • Article dans une revue

Defect assisted tunneling current : a revised interpretation of scanning tunneling spectroscopy measurements

B. Grandidier, X. de La Broïse, D. Stievenard, C. Delerue, M. Lannoo, M. Stellmacher, J. Bourgoin

Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.3142-3144. ⟨hal-00158642⟩

  • Communication dans un congrès

Optical millimeter-wave system using sub-carrier local oscillator generation

Samuel Dupont, Christophe Loyez, Jean-Pierre Vilcot, N. Haese, Didier Decoster

2000, pp.Session 3-13. ⟨hal-00158605⟩

  • Communication dans un congrès

Non linear dynamics of magnetostrictive thin films near spin reorientation transition

Nicolas Tiercelin, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod, Henri Le Gall, Jamal Ben Youssef

Proceedings of the 3rd European Conference on Magnetic Sensors & Actuators, EMSA 2000, Jul 2000, Dresden, Germany. ⟨hal-00158468⟩

  • Communication dans un congrès

High frequency noise parameters of 0.25 µm SOI MOSFETs : comparison between fully and partially-depleted devices

M. Vanmackelberg, L. Picheta, C. Raynaud, J.L. Pelloie, F. Martin, D. Vanhoenacker, Gilles Dambrine

2000, pp.51-54. ⟨hal-00157905⟩

  • Communication dans un congrès

Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs

M. Goffioul, Gilles Dambrine, D. Vanhoenacker, J.P. Raskin

Proceedings of the 5th Symposium on Diagnostics and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization, D&Y'2000, 2000, Warsaw, Poland. ⟨hal-00157893⟩