Publicaciones
Affichage de 14431 à 14440 sur 16232
Gallium nitride activity at TIGER
S. Delage, C. Brylinski, Jean-Claude de Jaeger
CEPA2 Microelectronics Workshop, 2003, Gothenburg, Sweden. ⟨hal-00146713⟩
Optimisation de la qualité vidéo MPEG-2 en transmission ADSL. Etude d'un transcodage vidéo hiérarchique
J. Fauquet
2003. ⟨hal-00146714⟩
Analyse par micro-biosystème hyperfréquence
Nour Eddine Bourzgui, Yannick Guhel, Vianney Mille, Bertrand Bocquet
Actes de Optique Hertzienne et Dielectrique, OHD 2003, 2003, Calais, France. ⟨hal-00146389⟩
Micro-pompe à actuation thermique appliquée à la microfluidique
Julien Carlier, F. Caron, S. Arscott, J.C. Fourrier, V. Thomy, C. Druon, P. Tabourier, J.C. Camart
2003, pp.943-948. ⟨hal-00146382⟩
Nib-like microfabricated two dimensional nano-ESI tips
S. Le Gac, S. Arscott, C. Cren-Olive, C. Rolando
Proceedings of the 51st ASMS Conference on Mass Spectroscopy, 2003, Montreal, Canada. ⟨hal-00146412⟩
Multi-user communication system based in the Gegenbauer function
F. Elbahhar, Atika Rivenq, Marc Heddebaut, Jean-Michel Rouvaen, Tariq Boukour
Actes de TELECOM 03 et 3èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, JFMMA 2003, Oct 2003, Marrakech, Morocco. ⟨hal-00147108⟩
Theory of Si nanocrystals
Guy Allan, Christophe Delerue, Michel Lannoo
PAVESI L., GAPONENKO S., and DAL NEGRO L. Towards the first silicon laser, Kluwer Academic Publishers, pp.243-260, 2003, 978-1-4020-1194-8. ⟨10.1007/978-94-010-0149-6_22⟩. ⟨hal-00131749⟩
Evolution de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures
B. Boudart, Jean-François Llibre, D. Briand, Boubekeur Tala-Ighil, H. Toutah, Yannick Guhel, Jean-Claude de Jaeger, Z. Bougrioua, Marianne Germain, Ingrid Moerman
13es Journées Nationales Microondes, 2003, Lille, France. ⟨hal-01654259⟩
Guided wave techniques for optical characterization of lead based ferroelectrics
El Hadj Dogheche, X. Lansiaux, Denis Remiens
REMIENS D. Recent research developments in piezoelectric materials for macro/micro systems, Research Signpost, Kerala, India, pp.211-235, 2003. ⟨hal-00132004⟩
Transmission electron microscopy analysis of silicides used in ALSB-SOI MOSFET structures
J. Katcki, J. Ratajczak, A. Laszcz, F. Phillipp, Emmanuel Dubois, Guilhem Larrieu, Julien Penaud, Xavier Baie
Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, Mar 2003, Cambridge, United Kingdom. pp.479-482, ⟨10.1201/9781351074636-110⟩. ⟨hal-00250182⟩