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THz imaging with planar Goubau lines
Tahsin Akalin, Ibrahim Türer, Guillaume Ducournau, Jean-Francois Lampin
3rd EOS Annual Meeting, EOSAM 2010, 2010, Paris, France. ⟨hal-00574036⟩
Développement et étude de composants RF-LDMOS pour l'amplification micro-onde de puissance au-delà de 2 GHz
David Fournier
2010. ⟨hal-00572695⟩
Modélisation, conception et caractérisation d'un commutateur hyperfréquence à base de nanotubes de carbone verticaux
Michaël Charles
2010. ⟨hal-00572679⟩
Tellurium delta-doped 120nm AlSb/InAs HEMTs : towards sub-100mV electronics
Yannick Roelens, A. Olivier, L. Desplanque, A. Noudeviwa, Francois Danneville, Nicolas Wichmann, X. Wallart, S. Bollaert
68th Device Research Conference, DRC 2010, 2010, United States. pp.53-54, ⟨10.1109/DRC.2010.5551945⟩. ⟨hal-00549924⟩
100mV noise performances of Te-doped Sb-HEMT
A. Noudeviwa, A. Olivier, Yannick Roelens, Francois Danneville, Nicolas Wichmann, N. Waldhoff, L. Desplanque, X. Wallart, S. Bollaert
8th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems, ASDAM 2010, 2010, Slovakia. pp.25-28, ⟨10.1109/ASDAM.2010.5667012⟩. ⟨hal-00549922⟩
Synthèse de CuInGaS2 par voie sol-gel : application à la récupération de l'énergie photovoltaïque ambiante pour micro-systèmes autonomes
Y. Bourlier, C. Lethien, R. Bernard, Malek Zegaoui, M. Bouazoui, P. Roussel, Paul-Alain Rolland
1ères Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage d'Energie pour l'alimentation des microsystèmes autonomes, JNRSE 2010, Oct 2010, Paris, France. pp.51-53. ⟨hal-00572214⟩
Etude théorique de nanofils semi-conducteurs
M. Diarra, C. Delerue, Y.M. Niquet
Editions Universitaires Européennes, pp.144, 2010. ⟨hal-00575766⟩
Caractérisation Ultrasonore de Plaques PoroViscoElastiques à l'Aide des Termes de Transition
Serge Derible, Pierre Campistron, Georges Freiha, Hervé Franklin, Bertrand Nongaillard
10ème Congrès Français d'Acoustique, Apr 2010, Lyon, France. ⟨hal-00551191⟩
Testing the temperature limits of GaN-based HEMT devices
D. Maier, M. Alomari, N. Grandjean, J.F. Carlin, M.A. Di Forte-Poisson, C. Dua, A. Chuvilin, David Troadec, Christophe Gaquière, U. Kaiser, S.L. Delage, E. Kohn
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2010, 10, pp.427-436. ⟨10.1109/TDMR.2010.2072507⟩. ⟨hal-00579038⟩