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Communication dans un congrès

Electronic excitations in hexagonal layered systems (C and BN)

L. Wirtz, A. Marini, A. Rubio

11th Nanoquanta Workshop on Electronic Excitations, 2006, Houffalize, Belgium. ⟨hal-00127889⟩

Article dans une revue

Microfluidique intégrée pour le couplage d'un microcanal à une interface nanoESI : application à la protéomique

Julien Carlier, S. Arscott, Francois Caron, Jean-Christophe Fourrier, V. Thomy, J.C. Camart, C. Druon, P. Tabourier, Kasia Chuda, Xavier Coqueret, Séverine Le Gac, Christian Rolando

Ce travail porte sur la conception de microsystèmes microfluidiques dédiés à l’analyse de protéines par spectrométrie de masse ESI (ESI-MS). Dans un premier temps, nous présentons la filière technologique multi-matériaux développée. Elle répond à plusieurs contraintes, dont les principales sont…, The work presented here deals with the development of a microfluidic microsystem dedicated to macromolecule identification (proteins etc.) using electrospray ionisation-mass spectrometry (ESI-MS) analysis. Firstly, we present the novel multi-materials fabrication technology which has been developed…

La Houille Blanche - Revue internationale de l'eau, 2006, 3, pp.60-64. ⟨10.1051/lhb:200603009⟩. ⟨hal-00127163⟩

Article dans une revue

Left-handed electromagnetic properties of split-ring resonator and wire loaded transmission line in a fin-line technology

T. Decoopman, A. Marteau, Eric Lheurette, O. Vanbésien, D. Lippens

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2006, 54, pp.1451-1457. ⟨hal-00126831⟩

Communication dans un congrès

20GHz bandwidth digitizer for single shot analysis

H. El Aabbaoui, B. Gorisse, Jean-Francois Lampin, A. Benlarbi-Delaï, N. Rolland, V. Allouche, N. Fel, B. Riondet, P. Leclerc, P.A. Rolland

2006, 4 pp. ⟨hal-00126825⟩

Communication dans un congrès

Analysis and modeling of substrate impedance network in RF CMOS

Emmanuel Bouhana, Patrick Scheerer, Samuel Boret, Daniel Gloria, Gilles Dambrine, Michel Minondo, Hervé Jaouen

This paper presents a new approach for analyzing and modeling the substrate impedance network in RF CMOS. Thanks to preliminary and proper de-embedding of known parasitics, the substrate network is directly identified. Using this approach on MOS transistors from 130 down to 65 nm technologies…

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, Mar 2006, Austin, TX, United States. pp.65-70, ⟨10.1109/ICMTS.2006.1614277⟩. ⟨hal-00126801⟩