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Détection par micro-ondes de défauts dans les matériaux diélectriques

D. Glay, T. Lasri, A. Mamouni, Y. Leroy

6èmes Journées Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM 2000, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158162⟩

S. Arscott, T. David, X. Melique, P. Mounaix, D. Lippens

2000, pp.561-564. ⟨hal-00158203⟩

M. Lahlaouti, Abdellatif Akjouj, B. Djafari-Rouhani, Leonard Dobrzynski

Physical Review B, 2000, 61 (3), pp.2059-2064. ⟨10.1103/PhysRevB.61.2059⟩. ⟨hal-04070077⟩

Anne-Christine Hladky, C. Granger

2000, pp.64-65. ⟨hal-00157823⟩

Emmanuel Moulin, Jamal Assaad, Christophe Delebarre, D. Osmont

Journal of the Acoustical Society of America, 2000, 107, pp.87-94. ⟨hal-00159070⟩

N. Cavassilas, F. Aniel, A. Nojeh, R. Adde, M. Zaknoune, S. Bollaert, Y. Cordier, D. Theron, A. Cappy

2000, 10 pp. ⟨hal-00159003⟩

B. Grandidier, J.P. Nys, D. Stievenard, Christophe Krzeminski, C. Delerue, P. Frere, P. Blanchard, J. Roncalli

Proceedings of the 47th International Symposium of the American Vacuum Society, AVS 2000, 2000, Boston, MA, United States. ⟨hal-00158959⟩

Christophe Loyez, N. Haese, O. Lafond, P. Lefebvre, G. Lewandowski, P.A. Rolland

Proceedings of the 2000 European Conference on Wireless Technology, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158175⟩

P. Lefevre, N. Haese, G. Lewandowski, Christophe Loyez, P.A. Rolland

2000, 4 pp. ⟨hal-00158148⟩

Christophe Gaquière, B. Boudart, R. Amokrane, Y. Guhel, Y. Crosnier, Jean-Claude de Jaeger, F. Omnes

2000, pp.VIII-11, VIII-12. ⟨hal-00159001⟩