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Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur

B. Grandidier

Journées Nanomicrotechnologies : Surfaces et nanostructures - Analyses, mesures et modélisations, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575341⟩

B. Grandidier

Journées Nanomicrotechnologies, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575347⟩

N. Clement, S. Pleutin, David Guérin, D. Cahen, D. Vuillaume

International Conference on Solid State Devices and Materials, SSDM 2009, 2009, Miyagi, Japan. ⟨hal-00574905⟩

Bertrand Dubus, Anne-Christine Hladky, Jerome O. Vasseur, Bahram Djafari-Rouhani, B. Morvan, A. Tinel

XIèmes Journées d'Acoustique Physique, Sous-Marine et Ultrasonore, JAPSUS 2009, 2009, Le Mans, France. ⟨hal-00574844⟩

V. Thomy

Leray J.L., Boudenot J.C., Gautier J. La micro-nano électronique, enjeux et mutations, CNRS ÉDITIONS, pp.249-252, 2009. ⟨hal-00575803⟩

C. Lethien

IN-TECH, pp.586, 2009. ⟨hal-00575762⟩

N. Rolland

Leray J.L., Boudenot J.C., Gautier J. La micro-nano électronique, enjeux et mutations, CNRS ÉDITIONS, pp.331-334, 2009. ⟨hal-00575783⟩

A. Cathelin, S. Razafimandimby, A. Kaiser

18th Workshop on Advances in Analog Circuit Design, AACD 2009, 2009, Lund, Sweden. ⟨hal-00575270⟩

A. Hamadou, S. Lamari, Jean-Luc Thobel

5ème Séminaire National sur les Lasers et ses Applications, SENALAP 5, 2009, Ouargla, Algérie. ⟨hal-00575714⟩

K. Smaali, S. Lenfant, D. Vuillaume, D. Deresmes, S. Karpe, M. Ocafrain, P. Blanchard, J. Roncali

Materials Research Society Spring Meeting, 2009, San Francisco, CA, United States. ⟨hal-00574927⟩