Publications
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Reversible electro-optical switch of self-assembled monolayers of azobenzene-derivatized oligothiophenes grafted on gold
K. Smaali, S. Lenfant, D. Vuillaume, D. Deresmes, S. Karpe, M. Ocafrain, P. Blanchard, J. Roncali
Materials Research Society Spring Meeting, 2009, San Francisco, CA, United States. ⟨hal-00574927⟩
Growth of vertical InAs nanowire arrays on InP(111)B by MBE
Philippe Caroff, Renaud Leturcq, Christophe Coinon, X. Wallart
4ème Workshop Annuel du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs, 2009, Autrans, France. ⟨hal-00574850⟩
Contribution à l'étude d'un système d'imagerie passive en gamme millimétrique en utilisant la technique de synthèse d'ouverture
Guillaume Desruelles
2009. ⟨hal-00572772⟩
Conception et réalisation technologique de transistors de la filière HEMTs AlGaN/GaN sur substrat silicium pour l'amplification de puissance hyperfréquence
Jean-Claude Gerbedoen
2009. ⟨hal-00572806⟩
Parametrically active magnetoelastic composite based on nickel-ferrite and porous polymers
P.N. Shirkovsky, Y.V. Pyl'Nov, V.L. Preobrazhensky, Philippe Pernod
International Conference 'Functional Materials', ICFM 2009, 2009, Partenit, Crimea, Ukraine. ⟨hal-00810528⟩
Ferromagnetic resonance and magnetoelastic demodulation in giant magnetostriction TbCo2/FeCo nanostructured thin film
A. Klimov, Y. Ignatov, S. Nikitov, Nicolas Tiercelin, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod
International Conference 'Functional Materials', ICFM 2009, 2009, Partenit, Crimea, Ukraine. ⟨hal-00810531⟩
Caractérisation de défauts atomiques uniques dans un semiconducteur
B. Grandidier
Journées Nanomicrotechnologies : Surfaces et nanostructures - Analyses, mesures et modélisations, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575341⟩
Kelvin force microscopy for n- and p-type GaN surface characterization
Thierry Melin, Koku Kusiaku, Sophie Barbet, D. Deresmes, Didier Theron, Raphaël Aubry, Marie-Antoinette Di Forte-Poisson, Jean-Claude Jacquet
Worskhop on Compound Semiconductor Materials and Devices, WOCSEMMAD'09, 2009, Fort Myers, FL, United States. ⟨hal-00575345⟩
Caractérisation électrique de défauts ponctuels atomiques uniques dans un semi-conducteur
B. Grandidier
Journées Nanomicrotechnologies, 2009, Paris, France. ⟨hal-00575347⟩