Publications

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  • Communication dans un congrès

Silicon-molecules-metal junctions by nanotransfer printing

C. Merckling, David Guérin, S. Lenfant, D. Vuillaume

French-Japan Workshop on Nanomaterials, 2004, Bordeaux, France. ⟨hal-00140758⟩

  • Communication dans un congrès

Physical analysis of the breakdown phenomenon between single or double step gate recess HEMTs

M. Elkhou, Michel Rousseau, H. Gerard, Jean-Claude de Jaeger

2004, pp.571-574. ⟨hal-00142307⟩

  • Communication dans un congrès

Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs

R. Pierobon, F. Rampazzo, D. Pacetta, Christophe Gaquière, D. Theron, B. Boudart, G. Meneghesso, E. Zanoni

2004, pp.143-146. ⟨hal-00141969⟩

  • Article dans une revue

AlGaN/GaN HEMTs : technology and microwave performance

Jean-Claude de Jaeger

Microwave Engineering Europe, 2004, mai, pp.30. ⟨hal-00141996⟩

  • Communication dans un congrès

Mesures pulsées haute température en mode DC et RF de HEMTs AlGaN/GaN sur substrat silicium haute résistivité

M. Werquin, D. Ducatteau, N. Vellas, D. Jambon, D. Theron, E. Delos, N. Caillas, Y. Cordier, Jean-Claude de Jaeger, S. Delage, Christophe Gaquière

GDR Grand Gap, 2004, Fréjus, France. ⟨hal-00141965⟩

  • Communication dans un congrès

Data transmission and distance measurement between two trains in tunnels

M. Lienard, Pierre Laly, Pierre Degauque

2004, pp.CD session B2. ⟨hal-00142001⟩

  • Communication dans un congrès

Propagation characteristics in subway tunnels : application to a communication and distance measurement system

M. Lienard, Pierre Degauque, Pierre Laly

2004, pp.240-243. ⟨hal-00142024⟩

  • Communication dans un congrès

Plateforme SAW dédiée à la microfluidique discrète pour applications biologiques

A. Renaudin, P. Tabourier, V. Zhang, C. Druon

Actes du 2ème Congrès Français de Microfluidique, 2004, Toulouse, France. ⟨hal-00142067⟩

  • Article dans une revue

High microwave and noise performance of 0.17µm AlGaN/GaN HEMTs on high-resistivity silicon substrates

A. Minko, Virginie Hoel, Sylvie Lepilliet, Gilles Dambrine, Jean-Claude de Jaeger, Y. Cordier, F. Semond, F. Natali, J. Massies

IEEE Electron Device Letters, 2004, 25, pp.167-169. ⟨hal-00141951⟩