Publicaciones

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  • Article dans une revue

Experimental evaluation of new thermal inversion approach in correlation microwave thermometry

S. Bri, L. Bellarbi, M. Habibi, M. Elkadiri, A. Mamouni

Electronics Letters, 2000, 36, pp.439-440. ⟨hal-00158129⟩

  • Communication dans un congrès

Modeling of the static behavior in two InGaAsP laterally coupled semiconductor diode lasers

M. Leones, H. Lamela, H. Rivera, Jean-Pierre Vilcot, A. Idjeri

2000, pp.319-327. ⟨hal-00158599⟩

  • Communication dans un congrès

Theoretical limits for signal reflections due to inductance for on-chip interconnections

Fabrice Huret, Erick Paleczny, P. Kennis, Denis Deschacht, Gregory Servel

2000, pp.55-60. ⟨hal-00158603⟩

  • Article dans une revue

Modeling of Lamb waves generated by integrated transducers in composite plates using a coupled finite element-normal modes expansion method

Emmanuel Moulin, Jamal Assaad, Christophe Delebarre, D. Osmont

Journal of the Acoustical Society of America, 2000, 107, pp.87-94. ⟨hal-00159070⟩

  • Communication dans un congrès

Transmission line analysis via THz photoconductive sampling

Jean-Francois Lampin, F. Mollot

International Terahertz Workshop, 2000, Sandbjerg, Denmark. ⟨hal-00158448⟩

  • Communication dans un congrès

Issues in high frequency noise simulation for deep submicron MOSFET's

J.S. Goo, C.H. Choi, Francois Danneville, Z. Yu, T. Lee, R. Dutton

2000, pp.401-406. ⟨hal-00157897⟩

  • Communication dans un congrès

Stage de sensibilisation des étudiants au travail en salle blanche : réalisation d'éléments actifs et passifs

Virginie Hoel, H. Happy, P. Delemotte, Gilles Dambrine, A. Cappy

VIèmes Journées Pédagogiques du CNFM, 2000, Saint-Malo, France. ⟨hal-00157900⟩

  • Communication dans un congrès

Comparison of microwave performances for fully and partially depleted sub-quarter micron SOI MOSFETs

M. Goffioul, Gilles Dambrine, D. Vanhoenacker, J.P. Raskin

Proceedings of the 5th Symposium on Diagnostics and Yield : SOI-Materials, Devices and Characterization, D&Y'2000, 2000, Warsaw, Poland. ⟨hal-00157893⟩

  • Communication dans un congrès

High frequency noise parameters of 0.25 µm SOI MOSFETs : comparison between fully and partially-depleted devices

M. Vanmackelberg, L. Picheta, C. Raynaud, J.L. Pelloie, F. Martin, D. Vanhoenacker, Gilles Dambrine

2000, pp.51-54. ⟨hal-00157905⟩