Publications

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  • Communication dans un congrès

Design and modeling of microwave applicators and antennas for medical applications

Luc Dubois, Pierre-Yves Cresson, C. Ricard, Nicolas Bernardin, Joseph Pribetich

International Symposium on Microwave Science and its Application to Related Fields, Jul 2004, Takamatsu, Japan. ⟨hal-00133926⟩

  • Article dans une revue

Measure of the temperature-depth profile by an S band radiometric receiver for biomedical applications

S. Bri, L. Zenkouar, A. Saadi, L. Bellarbi, M. Habibi, A. Mamouni

Annals of Telecommunications - annales des télécommunications, 2004, 59, pp.467-484. ⟨hal-00133928⟩

  • Article dans une revue

Micro-transformateur piézoélectrique intégré sur substrat en silicium

Dejan Vasic, François Costa, Emmanuel Sarraute, Patrick Sangouard, Eric Cattan

Revue Internationale de Génie Electrique, 2004, 7 (3-4), pp.315-332. ⟨hal-00811665⟩

  • Article dans une revue

Visualization of phase conjugate ultrasound waves passed through inhomogeneous layer

K. Yamamoto, Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky

Ultrasonics, 2004, 42, pp.1049-1052. ⟨hal-00140728⟩

  • Communication dans un congrès

Data transmission and distance measurement between two trains in tunnels

M. Lienard, Pierre Laly, Pierre Degauque

2004, pp.CD session B2. ⟨hal-00142001⟩

  • Communication dans un congrès

Analysis of hot carrier aging degradation in GaN MESFETs

R. Pierobon, F. Rampazzo, D. Pacetta, Christophe Gaquière, D. Theron, B. Boudart, G. Meneghesso, E. Zanoni

2004, pp.143-146. ⟨hal-00141969⟩

  • Autre publication scientifique

Evaluation de la dégradation du béton par ondes ultrasonores

S. Ould Naffa

2004. ⟨hal-00162783⟩

  • Article dans une revue

AlGaN/GaN HEMTs : technology and microwave performance

Jean-Claude de Jaeger

Microwave Engineering Europe, 2004, mai, pp.30. ⟨hal-00141996⟩

  • Article dans une revue

High microwave and noise performance of 0.17µm AlGaN/GaN HEMTs on high-resistivity silicon substrates

A. Minko, Virginie Hoel, Sylvie Lepilliet, Gilles Dambrine, Jean-Claude de Jaeger, Y. Cordier, F. Semond, F. Natali, J. Massies

IEEE Electron Device Letters, 2004, 25, pp.167-169. ⟨hal-00141951⟩