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  • Communication dans un congrès

Reliability of polysilicon microstructures : in situ test benches

O. Millet, L. Buchaillot, D. Collard

2002, pp.1795-1800. ⟨hal-00148790⟩

  • Communication dans un congrès

Réalisation technologique d’un transistor à effet de champ dans la filière GaN

B. Boudart

Ecole Thématique CNRS : Matériaux Nitrures d'Eléments III, 2002, La Plagne, France. ⟨hal-01654488⟩

  • Article dans une revue

La sismique réflexion haute résolution, un outil pour la reconnaissance des couches superficielles

Bogdan Piwakowski, C. Leonard, I. Shahrour

Revue française de Géotechnique, 2002, 101, pp.23-33. ⟨10.1051/geotech/2002101023⟩. ⟨hal-00250179⟩

  • Communication dans un congrès

Optimisation of abrupt emitter-base junction for heavily Be-doped InP/In0.53Ga0.47As heterojunction bipolar transistor

E. Lefebvre, M. Zaknoune, F. Mollot

14th Indium Phosphide and Related Materials Conference, IPRM 2002, 2002, Sweden. pp.615-618. ⟨hal-00250210⟩

  • Communication dans un congrès

Luminescence properties of InAs dots grown by molecular beam epitaxy on metamorphic InxAl1-xAs (0.33 < x < 0.52) buffer layers

D. Vignaud, Y. Cordier, P. Miska, D. Ferré

28th International Symposium on Compound Semiconductors, 2002, Japan. pp.537-542. ⟨hal-00250216⟩

  • Article dans une revue

Electrical and optical characterizations by prism-coupling method of PZT deposited in-situ by sputtering

El Hadj Dogheche, Denis Remiens, G. Velu

Vacuum, 2002, 66, pp.1-8. ⟨hal-00250392⟩

  • Article dans une revue

Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates : influence of film thickness and orientation

T. Haccart, Eric Cattan, Denis Remiens

Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2002, 5, pp.78-88. ⟨hal-00250395⟩

  • Communication dans un congrès

The linearisation of an electrostrictive device for MEMS applications

D. Jenkins, E. Fribourg-Blanc, Eric Cattan, Denis Remiens

13th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, ISAF 2002, 2002, Japan. pp.479-482. ⟨hal-00250396⟩