Publicaciones

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  • Communication dans un congrès

On 2D/3D numerical oxidation modeling : calibration and investigation of silicon crystal orientation effect on stresses in shallow trench isolations

T. Hoffmann, K.F. Dombrowski, V. Senez

2000, pp.59-62. ⟨hal-00158513⟩

  • Article dans une revue

An accurate and efficient high frequency noise simulation technique for deep submicron MOSFETs

J.S. Goo, C.H. Choi, Francois Danneville, E. Morifuji, H.S. Momose, Z. Yu, H. Iwai, T.H. Lee, R.W. Dutton

IEEE Transactions on Electron Devices, 2000, 47, pp.2410-2419. ⟨hal-00157860⟩

  • Communication dans un congrès

STM studies of organic molecules on Si(100) : what can we learn ?

D. Stievenard

Research Conference on Manipulation of Individual Atoms and Molecules, 2000, Les Houches, France. ⟨hal-00158964⟩

  • Article dans une revue

Spatial mapping of electroluminescence due to impact ionization effect in high electron mobility transistors

Christophe Gaquière, B. Boudart, P.A. Dhamlincourt

Applied Spectroscopy, 2000, 54, pp.1423-1428. ⟨hal-00158981⟩

  • Autre publication scientifique

Nouvelles architectures de sources stables programmables en gamme millimétrique et centimétrique

G. Lewandowski

2000. ⟨hal-00158127⟩

  • Article dans une revue

A silicon shadow mask for deposition on isolated areas

A. Tixier, Y. Mita, J.P. Gouy, H. Fujita

Journal of Micromechanics and Microengineering, 2000, 10, pp.157-162. ⟨hal-00158497⟩

  • Communication dans un congrès

Visualisation des ondes Ao, So, A1, S1 et A sur une plaque métallique immergée

L. Derbesse, Philippe Pernod, V. Latard, A. Merlen

2000, pp.92-94. ⟨hal-00158457⟩

  • Article dans une revue

Strained layer growth of Ga1-xInxP on GaAs (100) and GaP (100) substrates

X. Wallart, F. Mollot

Applied Surface Science, 2000, 166, pp.446-450. ⟨hal-00158444⟩