Publicaciones

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  • Article dans une revue

Interplay between segregation, roughness and local strains in the growth of Ga0.75In0.25P alloy

X. Wallart, C. Priester, D. Deresmes, F. Mollot

Applied Physics Letters, 2000, 77, pp.253-255. ⟨hal-00158232⟩

  • Communication dans un congrès

Narrowband active GaAs MMIC filters in K-band

J. Vindevoghel, P. Descamps

2000, pp.147-150. ⟨hal-00158160⟩

  • Article dans une revue

Temperature control by microwave radiometry with narrow bandwidth

Luc Dubois, C. Vanoverschelde, V. Thomy, J.P. Sozanski, M. Chive

European Physical Journal: Applied Physics, 2000, 9, pp.63-68. ⟨hal-00158150⟩

  • Article dans une revue

FECTED oscillator optronic application feasibility

F. Driouch, M.R. Friscourt, Christophe Dalle

Solid-State Electronics, 2000, 44, pp.1455-1461. ⟨hal-00158131⟩

  • Communication dans un congrès

Finite element modeling of smart materials : application to an adaptative structure using SMA

Anne-Christine Hladky, S. Rafanomezantsoa, L. Buchaillot

2000, pp.133-142. ⟨hal-00157816⟩

  • Communication dans un congrès

Monolithic microwave integrated GaAs electromagnetically-coupled antennas

M. Grzeskowiak, J. Vindevoghel

2000, pp.170-173. ⟨hal-00158144⟩

  • Communication dans un congrès

Conduction band offset at the (AIxGa1-x)yIn1-y/Ga0.52In0.48P interface : a photoluminescence study

D. Vignaud, F. Mollot

Proceedings of the 11th International Conference on Molecular Beam Epitaxy, MBE XI, 2000, Beijing, China. ⟨hal-00158221⟩

  • Communication dans un congrès

Convertisseur de polarisation avec contrôle de phase intégré sur semiconducteur III-V de type AIGaAs/GaAs

N. Grossard, H. Porte, Jean-Pierre Vilcot, J.P. Goedgebuer

20èmes Journées Nationales d'Optique Guidée, 2000, Toulouse, France. ⟨hal-00158597⟩

  • Communication dans un congrès

Use of the time-frequency analysis approach in impact echo method - Example of application : detection of fault in concrete slab

O. Abraham, P. Cote, C. Leonard, Bogdan Piwakowski

5th International Symposium on Non-Destructive Testing in Civil Engineering, 2000, Japan. pp.463-469. ⟨hal-00250443⟩