Publications

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  • COMM

Comparative measurements of the optical spectrum dependence on distance between laterally coupled diode lasers

H. Lamela, R. Santos, G. Carpintero, Jean-Pierre Vilcot, A. Barsella, J. Figueiredo, M. Pessa

2003, pp.86-91. ⟨hal-00146495⟩

  • ART

Actionneurs films minces pour contrôle santé de structures

E. Fribourg-Blanc, M. Dupont, D. Osmont, Eric Cattan, Denis Remiens

Instrumentation, Mesure, Métrologie, 2003, 3, pp.225-237. ⟨hal-00146476⟩

  • COMM

Microfluidic systems for high-throughput proteomics

S. Le Gac, S. Arscott, C. Druon, P. Tabourier, C. Rolando

2003, pp.70-73. ⟨hal-00146443⟩

  • COMM

Transmission electron microscopy analysis of silicides used in ALSB-SOI MOSFET structures

J. Katcki, J. Ratajczak, A. Laszcz, F. Phillipp, Emmanuel Dubois, Guilhem Larrieu, Julien Penaud, Xavier Baie

In Accumulated Low Schottky Barrier metal oxide semiconductor field effect transistors (MOSFET) on SOl structures, very thin silicide layers are used for ohmic contacts. Silicide contacts form due to metallurgical reaction of metal with semiconductor. In order to get a broad vision of the most…

Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, Mar 2003, Cambridge, United Kingdom. pp.479-482, ⟨10.1201/9781351074636-110⟩. ⟨hal-00250182⟩

  • COMM

Evaluation de la dégradation de béton par ondes ultrasonores haute fréquence

Bogdan Piwakowski, M. Goueygou, S. Ould-Naffa, F. Buyle-Bodin

GDR Ondes, Contrôle non destructif, 2003, Paris, France. ⟨hal-00250186⟩

  • COMM

Influence de la température sur les caractéristiques pulsées statiques et hyperfréquences des HEMTs AlGaN/GaN sur substrat silicium résistif (111)

M. Werquin, Christophe Gaquière, N. Vellas, E. Delos, D. Ducatteau, Y. Cordier, S. Delage, Jean-Claude de Jaeger

2003, pp.1D-13. ⟨hal-00146691⟩

  • OUV

Recent research developments in piezoelectric materials for macro/micro systems

Denis Remiens

Research Signpost, Kerala, India, 235 p., 2003. ⟨hal-00132006⟩

  • COUV

Influence of orientation, thickness and Nb doping on the structural, microstructural and electrical properties of PZT thin films

Eric Cattan, Denis Remiens, T. Haccart

REMIENS D. Recent research developments in piezoelectric materials for macro/micro systems, Research Signpost, Kerala, India, pp.129-158, 2003. ⟨hal-00132002⟩

  • COMM

Evolutions de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures

B. Boudart, Jean-François Llibre, D. Briand, B. Tala-Ighil, H. Toutah, Y. Guhel, Jean-Claude de Jaeger, Z. Bougrioua, Marie Germain, I. Moerman

2003, pp.1D-10. ⟨hal-00146659⟩