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Characterisation of thin plates using laser ultrasonics and neural networks

Mohammadi Ouaftouh, F. Lefevre, Frédéric Jenot, Marc Duquennoy, Mohamed Ourak

1st Mediterranean Congress on Acoustics, MCA 2010, 2010, Salé, Morocco. ⟨hal-00808304⟩

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Topographical patterning for microfluidic round channels fabrication

Magalie de Ville, Philippe Coquet, Philippe Brunet, Rabah Boukherroub, Yannick Coffinier

36th International Conference on Micro & Nano Engineering, MNE 2010, Sep 2010, Genoa, Italy. pp.1-2. ⟨hal-00568977⟩

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Détermination des paramètres d'un modèle HF de transformateur de puissance à partir de mesures dans le domaine temporel

H. Ouaddi, S. Baranowski, G. Nottet, L. Kone, N. Idir

15ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique, CEM 2010, 2010, France. pp.CDROM, M4-5, 1-4. ⟨hal-00573212⟩

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Dépôt de polymères organosiliciés par PECVD et RPECVD sur substrats structurés

P. Supiot, Céline Vivien, V. Rouessac, S. Roualdes

MATERIAUX 2010, Conférence pluridisciplinaire sur les matériaux, 2010, France. pp.1-4. ⟨hal-00573205⟩

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Évaluation numérique des propriétés d'un canal de transmission pour application des courants porteurs en ligne (CPL) dans un avion

S. Bertuol, I. Junqua, Virginie Degardin, Pierre Degauque, M. Lienard

15ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique, CEM 2010, 2010, France. pp.CDROM, E3-1, 1-6. ⟨hal-00573209⟩

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Sur quelques aspects de la compromission liée au rayonnement des courants porteurs en ligne

L. Diquelou, Pierre Laly, Virginie Degardin, M. Lienard, Pierre Degauque

15ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique, CEM 2010, 2010, France. pp.CDROM, E6-4, 1-4. ⟨hal-00573210⟩

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Thermal characterization of MBE-grown GaN/AlGaN/GaN on single crystalline diamond

J. Kuzmik, S. Bychikhin, E. Pichonat, O. Lancry, Christophe Gaquière, G. Tsiakatouras, G. Deligeorgis, A. Georgakilas, R. Balmer, D. Pogany

6th International Workshop on Nitride Semiconductors, IWN2010, 2010, Tampa, FL, United States. ⟨hal-00573557⟩