Publications

• Communication dans un congrès

Investigations des propriétés magnéto-élastiques critiques induites par la nanostructuration des films à magnétostriction géante : applications MEMS

Steve Masson, S. Euphrasie, O. Ducloux, C. Sion, Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky, Henri Le Gall, J.P. Jay, D. Spenato, S. Petit, Jamal Ben Youssef, J. Teillet, Jean Juraszek

Journées Nationales du Réseau Micro et Nano Technologies, 2003, Lille, France. ⟨hal-00146152⟩

• Communication dans un congrès

Investigations des propriétés magnéto-élastiques critiques induites par la nanostructuration des films à magnétostriction géante : applications MEMS

S. Masson, S. Euphrasie, O. Ducloux, C. Sion, Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky, J.P. Jay, D. Spenato, S. Petit, J. Teillet, J. Jurascek

Journée Nanosciences-Nanotechnologies, 2003, Paris, France. ⟨hal-00146153⟩

• Communication dans un congrès

Technological fabrication of nanometric GaInAs/AlInAs ballistic devices

Jean-Sebastien Galloo, Emmanuelle Pichonat, Yannick Roelens, S. Bollaert, X. Wallart, A. Cappy, Javier Mateos, Tomás González, Hervé Boutry

Trends in NanoTechnology, TNT 2003, Sep 2003, Salamanca, Spain. ⟨hal-00146040⟩

• Communication dans un congrès

Acoustique nonlinéaire des ondes conjuguées en phase dans les milieux hétérogènes (approche AGNL)

Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod

2003, pp.CD-ROM, Session 1 - Acoustique. ⟨hal-00146154⟩

• Communication dans un congrès

Antennes et réseaux d'antennes millimétriques multi-couches micro-usinées sur Silicium

Arc'Hanmael Gaillard, Ronan Sauleau, Hervé Lhermite, Philippe Coquet

Treizièmes Journées Nationales Micro-ondes, May 2003, Lille, France. 4 p. ⟨hal-00553226⟩

• Article dans une revue

Very low Schottky barrier to n-type silicon with PtEr-stack silicide

Xing Tang, J. Katcki, Emmanuel Dubois, N. Reckinger, J. Ratajczak, G. Larrieu, P. Loumaye, O. Nisole, V. Bayot

We investigate Er silicide formed on n-type silicon. In order to protect the Er from oxidation during the formation of Er silicide in non-UHV conditions, a Pt layer is deposed successively on top of Er layer. Surprisingly, we observe that Pt remains essentially unaffected in the formation of Er…

Solid-State Electronics, 2003, 47 (11), pp.2105-2111. ⟨10.1016/S0038-1101(03)00256-9⟩. ⟨hal-00146401⟩

• Autre publication scientifique

Caractérisation électro-optique de composants térahertz par échantillonnage Franz-Keldysh subpicoseconde.

L. Desplanque

2003. ⟨hal-00018596⟩

• Communication dans un congrès

New all 2-inch manufacturable high performance evanescent coupled waveguide photodiodes with etched mirrors for 40Gb/s optical receivers

Mohand Achouche, Stéphane Demiguel, Estelle Derouin, David Carpentier, F. Barthe, Fabrice Blache, Vincent Magnin, Joseph Harari, Didier Decoster

Evanescent PIN photodiodes are fabricated using all 2”-InP processing including on-wafer mirrors and coatings. 0.73 A/W responsivity at 1.55 µm, -1 dB vertical coupling tolerance of 2.2 µm and 47 GHz bandwidth are simultaneously demonstrated.

OFC 2003 Optical Fiber Communications Conference, Mar 2003, Atlanta, United States. pp.341-342, ⟨10.1109/OFC.2003.1248117⟩. ⟨hal-00146497⟩

• Communication dans un congrès

Understanding the twin stripe laser diode : a multimode perspective

A. Barsella, M. Yousefi, S. Mc Murtry, G. Morthier, D. Lenstra, Jean-Pierre Vilcot, R. Baets

2003, pp.49-56. ⟨hal-00146556⟩

• Communication dans un congrès

Modeling and experimental validation of silicon nanotip oxidation : towards a nanoelectromechanical filter application

Vincent Agache, Patrice Bigotte, Bernard Legrand, Vincent Senez, Lionel Buchaillot, Dominique Collard

This study aims at modeling the thermal oxidation of silicon pedestals leading to the formation of sharp silicon tips. The model is used to determine optimum process parameters taking into account the initial shape of the silicon pedestal shapes, and the geometry of the desired tip. Experimental…

12th International Conference on Solid-State Sensors, Jun 2003, Boston, United States. pp.1287-1290, ⟨10.1109/SENSOR.2003.1217008⟩. ⟨hal-00146438⟩