Publications
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Parasitic effects and traps in AlGaN/GaN HEMT on sapphire substrate
O. Fathallah, M. Gassoumi, B. Grimbert, Christophe Gaquière, H. Maaref
European Physical Journal: Applied Physics, 2010, 51, pp.10304-1-5. ⟨10.1051/epjap/2010085⟩. ⟨hal-00549476⟩
Vers la caractérisation cellulaire par BioMEMS THz
Simon Laurette, A. Treizebre, Nour Eddine Bourzgui, Bertrand Bocquet
13èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, JNRDM 2010, Jan 2010, Paris, France. CD-ROM, Session MEMS Lab-on-chip, 1-4. ⟨hal-00573235⟩
Interface engineering for improved light transmittance through photonic crystal flat lenses
Geoffroy Scherrer, Maxence Hofman, Wojciech Smigaj, B. Gralak, X. Melique, O. Vanbesien, D. Lippens, Colette Dumas, Benoît Cluzel, F. de Fornel
Applied Physics Letters, 2010, 97 (7), pp.071119. ⟨10.1063/1.3473760⟩. ⟨hal-00548691⟩
Al0.56In0.44Sb/Ga0.5In0.5Sb heterostructures for high speed and low power consumption electronic devices
L. Desplanque, D. Vignaud, S. Godey, S.R. Plissard, E. Cadio, X. Wallart, P. Liu, H. Sellier
16th International Conference on Molecular Beam Epitaxy, MBE 2010, 2010, Berlin, Germany. ⟨hal-00573659⟩
Time-resolved charge detection and back-action in quantum circuits
T. Ihn, S. Gustavsson, U. Gasser, R. Leturcq, I. Shorubalko, K. Ensslin
Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, 2010, 42, pp.803-808. ⟨10.1016/j.physe.2009.11.087⟩. ⟨hal-00568568⟩
Growth and electric properties of MPB BiScO3-PbTiO3 thin films on La0.7Sr0.3MnO3-coated silicon substrates
S.A. Zhang, X.L. Dong, Y. Chen, F. Cao, Y.Y. Zhang, G.S. Wang, N. Sama, Denis Remiens
Journal of the American Ceramic Society, 2010, 93, pp.1583-1585. ⟨10.1111/j.1551-2916.2010.03630.x⟩. ⟨hal-00549506⟩
Bottom and top electrodes nature and PZT film thickness influence on electrical properties
N. Sama, Caroline Soyer, Denis Remiens, C. Verrue, R. Bouregba
Sensors and Actuators A: Physical , 2010, 158, pp.99-105. ⟨10.1016/j.sna.2009.11.032⟩. ⟨hal-00549503⟩
Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications
J. Ratajczak, A. Laszcz, A. Czerwinski, J. Katcki, F. Phillipp, P.A. van Aken, N. Reckinger, Emmanuel Dubois
Journal of Microscopy, 2010, EM 2008 ‐ XIII International Conference on Electron Microscopy, 237 (3), pp.379-383. ⟨10.1111/j.1365-2818.2009.03264.x⟩. ⟨hal-00549623⟩
Étude d'un HEMT Alsb/InAs à 6K et 300K pour un fonctionnement basse consommation
A. Noudeviwa
13èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, JNRDM 2010, 2010, France. pp.CD-ROM, Session Matériaux 1. ⟨hal-00572216⟩
Réfraction négative d'ondes transverses dans les cristaux phononiques
Anne-Christine Hladky, Jerome O. Vasseur, Charles Croënne, J.-P. Groby, Bertrand Dubus, Bahram Djafari-Rouhani, A. Tinel, B. Morvan
10ème Congrés Français d'Acoustique, CFA 10, 2010, France. pp.1-4. ⟨hal-00572205⟩