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Experimental investigation of RF noise performance improvement in graded-channel MOSFETs

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Charles Croënne, F. Zhang, Eric Lheurette, X. Melique, D. Lippens

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R. Crunelle, S. Seok, M. Fryziel, N. Rolland, A. Cathelin, P.A. Rolland

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L. Jin, Christophe Loyez, N. Rolland, P. Rolland

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