Publications

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  • Communication dans un congrès

Metrology of thin dielectric films using picosecond ultrasonics

Arnaud Devos, R. Cote, G. Caruyer

2005, ThDpm1-07. ⟨hal-00131101⟩

  • Article dans une revue

Two dimensional numerical simulation of acoustic wave phase conjugation in magnetostrictive elastic media

P. Voinovich, A. Merlen

Journal of the Acoustical Society of America, 2005, 118, pp.3491-3498. ⟨hal-00137662⟩

  • Article dans une revue

Localized modes in a one-dimensional di-atomic chain of coupled spheres

Anne-Christine Hladky, M. de Billy

Journal of Applied Physics, 2005, 98, pp.054909. ⟨hal-00124477⟩

  • Article dans une revue

Non-destructive testing of ceramic balls using high frequency ultrasonic resonance spectroscopy

S. Petit, Marc Duquennoy, Mohammadi Ouaftouh, F. Deneuville, Mohamed Ourak, S. Devaux

Ultrasonics, 2005, 43, pp.802-810. ⟨hal-00140393⟩

  • Communication dans un congrès

Conception d'amplificateurs distribués en bande K avec une technologie CMOS SOI partiellement désertée 130 nm

C. Pavageau, M. Si Moussa, A. Siligaris, L. Picheta, Francois Danneville, J.P. Raskin, D. Vanhoenacker-Janvier, J. Russat, N. Fel

Actes des 14èmes Journées Nationales Microondes, 2005, Nantes, France. ⟨hal-00247447⟩

  • Communication dans un congrès

Fuzzy logic modelling of electrical properties – PANI/Dyneema® conductive fibres

B. Kim, V. Koncar, C. Dufour

5th World Textile Conference, AUTEX 2005, 2005, Portorož, Slovenia. ⟨hal-00247654⟩

  • Communication dans un congrès

Spectroscopie diélectrique THz de biomolécules en solution

Vianney Mille, Nour Eddine Bourzgui, Bertrand Bocquet

Actes des 1ères Journées du GDR Térahertz, 2005, Montpellier, France. ⟨hal-00247709⟩

  • Communication dans un congrès

High Accuracy 65nm OPC Verification: Full Process Window Model vs. Critical Failure ORC

Amandine Borjon, Jerome Belledent, Shumay D. Shang, Olivier Toublan, Corinne Miramond, Kyle Patterson, Kevin Lucas, Christophe Couderc, Yves Rody, Frank Sundermann, Jean-Christophe Urbani, Stanislas Baron, Yorick Trouiller, Patrick Schiavone

It is becoming more and more difficult to ensure robust patterning after OPC due to the continuous reduction of layout dimensions and diminishing process windows associated with each successive lithographic generation. Lithographers must guarantee high imaging fidelity throughout the entire range…

2005, pp.1750-1761. ⟨hal-00023223⟩

  • Article dans une revue

8-GHz bandwidth spatial sampling modules for ultrafast random-signal analysis

N. Rolland, A. Benlarbi-Delai, A. Ghis, P.A. Rolland

Microwave and Optical Technology Letters, 2005, 44, pp.292-295. ⟨hal-00154904⟩