Publications

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  • Communication dans un congrès

An original methodology to assess fatigue behavior in RF MEMS devices

O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

European Microwave Week, 2004, Amsterdam, Netherlands. ⟨hal-00141031⟩

  • Chapitre d'ouvrage

Remote powering of intelligent microsystems

Philippe Basset, L. Buchaillot, A. Kaiser

VALLE M. Smart adaptive systems on silicon, Kluwer Academic Publishers, pp.253-268, 2004. ⟨hal-00137232⟩

  • Communication dans un congrès

Eléments de microfluidique EWOD en technologie multi-matériaux pour microsystème à vocation biologique

F. Caron, J.C. Fourrier, Julien Carlier, V. Thomy, J.C. Camart, C. Druon, P. Tabourier

Actes du 2ème Congrès Français de Microfluidique, 2004, Toulouse, France. ⟨hal-00142068⟩

  • Communication dans un congrès

Semi-blind estimation in a DMT-based transmission on indoor power line

Virginie Degardin, M. Lienard, Pierre Degauque

2004, pp.195-199. ⟨hal-00142017⟩

  • Article dans une revue

One-dimensional reconstruction of a defect profile based on millimeter-wave nondestructive techniques

M. Maazi, D. Glay, T. Lasri

Microwave and Optical Technology Letters, 2004, 43, pp.133-138. ⟨hal-00133929⟩

  • Communication dans un congrès

Démultiplexeur nanométriques à plasmons

Maxime Beaugeois, L. Dobrzynski, Abdellatif Akjouj, Bahram Djafari-Rouhani, Jerome O. Vasseur, Mohamed Bouazaoui, Jean-Pierre Vilcot, J.P. Vigneron

GDR Ondes, 2004, Orsay, France. ⟨hal-00141207⟩

  • Autre publication scientifique

Etude et réalisation de photodiodes-guides millimétriques de puissance à 1,5 microns

N. Michel

2004. ⟨hal-00141172⟩

  • Article dans une revue

Conductivity of DNA probed by conducting-atomic force microscopy : effects of contact electrode, DNA stucture and surface interactions

T. Heim, D. Deresmes, Dominique Vuillaume

Journal of Applied Physics, 2004, 96, pp.2927-2936. ⟨10.1063/1.1769606⟩. ⟨hal-00140730⟩

  • Article dans une revue

Aluminum, oxide and silicon phonons by IETS on MOS tunnel junctions : accurate determination and effect of electrical stress

C. Petit, G. Salace, D. Vuillaume

Journal of Applied Physics, 2004, 96, pp.5042-5049. ⟨hal-00140733⟩