Publications

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  • Communication dans un congrès

Ultrasonic cavitation in thin liquid layer

Bertrand Dubus, A. Moussatov, C. Campos-Pozuelo

2004, pp.923-924. ⟨hal-00142048⟩

  • Communication dans un congrès

Bruit dans les nouveaux composants et matériaux ou bruit fiabilité

Jean-Guy Tartarin, Geoffroy Soubercaze-Pun, Abdelali Rennane, Laurent Bary, Robert Plana, Jean-Claude de Jaeger, S. Delage, Jacques Graffeuil

Workshop Action Spécifique Bruit : Bruit en régime linéaire et non-linéaire dans les composants et circuits de télécommunications, 2004, La Grande Motte, France. ⟨hal-00141964⟩

  • Communication dans un congrès

From the mechanical analysis of a polyarticulated microgripper to the design of a compliant microgripper

P. Bernardoni, A. Riwan, H. Tsitsiris, O. Millet, L. Buchaillot, S. Regnier, P. Bidaud

2004, pp.469-477. ⟨hal-00141169⟩

  • Communication dans un congrès

Predictive modelling of the fatigue phenomenon for polycristalline structural layers

O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot

2004, pp.145-148. ⟨hal-00141028⟩

  • Communication dans un congrès

Microactuators and microstrip antenna for polarization diversity

L. Le Garec, I. Roch, Mohamed Himdi, R. Sauleau, O. Millet, L. Buchaillot

2004, pp.D16-D19. ⟨hal-00141027⟩

  • Communication dans un congrès

Dispositif automatique pour le contrôle non destructif du béton par ondes de surface

Bogdan Piwakowski

Diagnobéton 2004, 2004, Montreal, Canada. ⟨hal-00248104⟩

  • Communication dans un congrès

Design and fabrication of miniature and monolithic transducers

Anne-Christine Hladky, R.E. Newnham, D.C. Markley, R.J. Meyer, J.K. Cochran

International Conference on Material Technology and Design of Integrated Piezoelectric Devices, 2004, Courmayeur, Italy. ⟨hal-00250170⟩

  • Communication dans un congrès

RF and noise properties of SOI MOSFETs, including the influence of a direct tunneling gate current

Francois Danneville, G. Pailloncy, Gilles Dambrine, B. Iniguez

2004, pp.103-110. ⟨hal-00154886⟩

  • Article dans une revue

Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs

F. Rampazzo, G. Pierobon, D. Pacetta, Christophe Gaquière, D. Theron, B. Boudart, G. Meneghesso, E. Zanoni

Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1375-1380. ⟨hal-00154890⟩