Publications

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  • Article dans une revue

Correlation between threading dislocation density and the refractive index of AlN grown by molecular-beam epitaxy on Si(111)

F. Natali, F. Semond, J. Massies, D. Byrne, S. Laugt, O. Tottereau, P. Vennegues, El Hadj Dogheche, E. Dumont

Applied Physics Letters, 2003, 82, pp.1386-1388. ⟨hal-00162730⟩

  • Communication dans un congrès

Experimental and theoretical charge transport studies in self-assembled molecular rectifying diodes on silicon

Christophe Delerue, Stéphane Lenfant, Christophe Krzeminski, Guy Allan, Dominique Vuillaume

Materials Research Society Fall Meeting, 2003, Boston, MA, United States. ⟨hal-00146176⟩

  • Communication dans un congrès

Chemistry of Si-H surfaces : from monolayers to nanometer-sized diodes

L. Baraton, J.P. Bourgoin, C. Chevrot, Serge Palacin, D. Vuillaume

French-USA Conference on Molecular-scale Electronics, 2003, Paris, France. ⟨hal-00146175⟩

  • Communication dans un congrès

Molecular scale electronics

D. Vuillaume

International Summer School on Advanced Microelectronics, MIGAS 2003, 2003, Autrans, France. ⟨hal-00146171⟩

  • Communication dans un congrès

Nanotechnologie et détection électrique d'interaction bio-moléculaire

D. Stievenard

Club Microcapteurs Chimiques (CMC2), Colloque XXIX : Capteurs et Nanotechnologies, 2003, Paris, France. ⟨hal-00146646⟩

  • Communication dans un congrès

Improvment of the DDFSE equalizer by a frequency offset correction algorithm

Iyad Dayoub, Jean-Michel Rouvaen

2003, pp.199-205. ⟨hal-00147098⟩

  • Communication dans un congrès

Controlled charge injection in semiconductor nanoparticles

H. Diesinger, Thierry Melin, D. Deresmes, D. Stiévenard

12th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy, Spectroscopy and Related Techniques, STM'03, 2003, Eindhoven, Netherlands. ⟨hal-00146616⟩

  • Communication dans un congrès

Avancées récentes des filières Silicium dans le domaine hyperfréquence

C. Raynaud, P. Chevalier, M. Laurens, S. Boret, B. van Haaren, R. Gwoziecki, C. Tinella, V. Knopik, S. Pruvost, Gilles Dambrine

2003, pp.INV2-1. ⟨hal-00145994⟩

  • Communication dans un congrès

Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs

R. Rengel, J. Mateos, D. Pardo, T. Gonzales, M.J. Martin, Gilles Dambrine, Francois Danneville, J.P. Raskin

2003, pp.585-588. ⟨hal-00145998⟩