Publications

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  • Article dans une revue

Angle of arrival measurement using ultra fast transient analyzer and music algorithm

A. Benlarbi-Delai, N. Rolland-Haese, A. Ghis, P.A. Rolland

Microwave and Optical Technology Letters, 2004, 41, pp.141-144. ⟨hal-00133924⟩

  • Communication dans un congrès

Non-linear modeling of the kink effect in deep sub-micron SOI MOSFET

A. Siligaris, Gilles Dambrine, Francois Danneville

2004, pp.47-50. ⟨hal-00133900⟩

  • Article dans une revue

InAlAs-InGaAs double-gate HEMTs on transferred substrate

Nicolas Wichmann, I. Duszynski, X. Wallart, S. Bollaert, A. Cappy

IEEE Electron Device Letters, 2004, 25, pp.354-356. ⟨hal-00133868⟩

  • Article dans une revue

Two Young modulus of Pb(Zr,Ti)03 thin films measured by nanoindentation

Patrick Delobelle, Olivier Guillon, E. Fribourg-Blanc, Caroline Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens

Applied Physics Letters, 2004, 85(22), pp. 1-3. ⟨hal-00019767⟩

  • Communication dans un congrès

Les progrès récents en sismique haute résolution - Outil complémentaire en génie civil pour la reconnaissance du proche sous-sol

Bogdan Piwakowski

GDR Ondes, Propagation des Ondes Sismiques : Modèles et Applications, 2004, Paris, France. ⟨hal-00248103⟩

  • Communication dans un congrès

Evolution piézométrique et hydrochimique de la nappe de la craie suite à la fermeture des HBNPC dans les zones affaissées de l'ouest douaisien

F. Barrez, J. Mania, J.L. Mansy, F. Meilliez, Bogdan Piwakowski, Brigitte van Vliet-Lanoë

Actes des Journées Nationales de Géotechnique et de Géologie de l'Ingénieur, JNGGI 2004, 2004, Lille, France. ⟨hal-00247819⟩

  • Communication dans un congrès

Modélisation de la synthèse des poudres de taille nanométrique Si/C/N par pyrolyse laser

Mohamed Amara, M. El Ganaoui, D. Hourlier

Congrès Français de Thermique, SFT 2004 - Transferts en milieux hétérogènes, 2004, Giens, France. ⟨hal-00248022⟩

  • Ouvrages

Noise in devices and circuits II – Proceedings of SPIE Vol. 5470

Francois Danneville, F. Bonani, J. Deen, M. Levinshtein

SPIE – The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, USA, 585 p., 2004. ⟨hal-00131720⟩

  • Article dans une revue

Atomic-scale observation of dopant atoms in GaAs

G. Mahieu, D. Deresmes, B. Grandidier, J.P. Nys, D. Stievenard

PICO : The Omicron NanoTechnology Newsletter, 2004, 8, pp.6-7. ⟨hal-00142060⟩