Publications

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  • Communication dans un congrès

Finite volume methods for wave phase conjugation in active media

A. Merlen, P. Voinovitch, Vladimir Preobrazhensky, Philippe Pernod

6th International Conference on Mathematical and Numerical Aspects of Wave Propagation, WAVES 2003, 2003, Finland. pp.765-769. ⟨hal-00250177⟩

  • Article dans une revue

Wave-mechanical calculations of leakage current through stacked dielectrics for nanotransistor Metal-Oxide-Semiconductor design

M. Le Roy, Eric Lheurette, O. Vanbésien, D. Lippens

Journal of Applied Physics, 2003, 93, pp.2966-2971. ⟨hal-00146086⟩

  • Communication dans un congrès

Microelectromechanical coupled resonsator IF filters with variable bandwidth in thick-film epitaxial polysilicon technology

D. Galayko, A. Kaiser, Bernard Legrand, L. Buchaillot, D. Collard, C. Combi

2003, pp.F23-F26. ⟨hal-00146406⟩

  • Communication dans un congrès

Microfluidics for proteomics : discrete liquids

Julien Carlier, F. Caron, J.C. Fourrier, V. Thomy, C. Druon, P. Tabourier, J.C. Camart, S. Le Gac, C. Rolando, S. Arscott

Japan-European Workshop on Chem Micro Mechatronics Systems and Biochips, 2003, Cachan, France. ⟨hal-00146400⟩

  • Communication dans un congrès

Raman characterization of Mg+ ion-implanted GaN

B. Boudart, Yannick Guhel, J. C. Pesant, Paul Dhamelincourt, M.A. Poisson

7th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors, 2003, Lille, France. ⟨hal-01649531⟩

  • Autre publication scientifique

Imagerie et détection ultrasonores par corrélation

B. El Khaldi

2003. ⟨hal-00162743⟩

  • Communication dans un congrès

Giant magnetostriction nanostructures for actuation of microsystems

Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky

2003, pp.7. ⟨hal-00146135⟩

  • Communication dans un congrès

Focalisation à l'aide de cavités de Perot-Fabry aux fréquences millimétriques

Ronan Sauleau, Philippe Coquet

Treizièmes Journées Nationales Micro-ondes, May 2003, Lille, France. 4 p. ⟨hal-00553233⟩

  • Article dans une revue

Techniques for mechanical strain analysis in submicron structures : TEM/CBED, micro-Raman spectroscopy, X-RAY micro-diffraction and modelling

I. de Wolf, V. Senez, R. Balboni, A. Armigliato, S. Frabboni, A. Cedola, S. Lagomarsino

Microelectronic Engineering, 2003, 70, pp.425-435. ⟨hal-00146410⟩