Publications

Affichage de 14191 à 14200 sur 16181


  • Communication dans un congrès

Microscopic analysis of the high-frequency noise behaviour of fully-depleted silicon-on-insulator MOSFETs

R. Rengel, J. Mateos, D. Pardo, T. Gonzales, M.J. Martin, Gilles Dambrine, Francois Danneville, J.P. Raskin

2003, pp.585-588. ⟨hal-00145998⟩

  • Communication dans un congrès

Conception de filtres planaires à bande étroite en technologie Si-BCB en bande W

G. Prigent, G. Six, E. Rius, H. Happy, François Le Pennec, S. Le Maguer, Cédric Quendo, Christian Person

2003, pp.6B-4. ⟨hal-00146000⟩

  • Communication dans un congrès

Ultra-fast sampling of THz pulses using post-process bonding of low temperature grown epitaxial layers

L. Desplanque, Jean-Francois Lampin, F. Mollot

2003, pp.32. ⟨hal-00146116⟩

  • Article dans une revue

Electrodynamic loudspeaker modelling and characterization

A. Kaddour, Jean-Michel Rouvaen, M.F. Belbachir

Technical Acoustics, 2003, 20, pp.1-7. ⟨hal-00146721⟩

  • Article dans une revue

One bit correlation receiver of pseudorandom sequences for target localization

B. El Khaldi, Jean-Michel Rouvaen

AMSE Advances in Modelling, Series B : Signal Processing and Pattern Recognition, 2003, 46, pp.1-10. ⟨hal-00146722⟩

  • Communication dans un congrès

Low frequency noise into phase noise in FETs

Francois Danneville

IEEE MTT-S International Microwave Symposium, Workshop on : Device Low Frequency Noise and Phase Noise of Microwave Circuits : How Good a Connection ?, 2003, Philadelphia, PA, United States. ⟨hal-00146039⟩

  • Article dans une revue

Molecular rectifying diodes from self-assembly on silicon

Stéphane Lenfant, Christophe Krzeminski, Christophe Delerue, Guy Allan, Dominique Vuillaume

Nano Letters, 2003, 3, pp.741-746. ⟨hal-00146156⟩

  • Communication dans un congrès

Composants non-linéaires de la microélectronique pour les applications dans le spectre millimétrique et submillimétrique

X. Melique, O. Vanbésien, D. Lippens

GDR Nanoélectronique : 1ères Journées Nationales Composants pour la micro et nano-électronique, 2003, Grenoble, France. ⟨hal-00146084⟩