Publications

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  • Article dans une revue

What are the limiting parameters of deep-submicron MOSFETs for high frequency applications ?

Gilles Dambrine, C. Raynaud, D. Lederer, M. Dehan, O. Rozeaux, M. Vanmackelberg, Francois Danneville, Sylvie Lepilliet, J.P. Raskin

IEEE Electron Device Letters, 2003, 24, pp.189-191. ⟨hal-00145984⟩

  • Communication dans un congrès

Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs

Gilles Dambrine, C. Raynaud, M. Vanmackelberg, Francois Danneville, G. Pailloncy, Sylvie Lepilliet, J.P. Raskin

SPIE Fluctuations and Noise Symposium, Noise in Devices and Circuits, 2003, Sante Fe, NM, United States. ⟨hal-00146001⟩

  • Article dans une revue

A post-processor for reducing temporal busyness in low-bit-rate applications

François-Xavier Coudoux, Marc G. Gazalet, Patrick Corlay

Signal Processing: Image Communication, 2003, 18, pp.455-463. ⟨hal-00146716⟩

  • Communication dans un congrès

Les microtechnologies et les microsystèmes : donnez du mouvement à la microélectronique

L. Buchaillot

Journée des électroniciens, 2003, Obernai, France. ⟨hal-00146458⟩

  • Chapitre d'ouvrage

Guided wave techniques for optical characterization of lead based ferroelectrics

El Hadj Dogheche, X. Lansiaux, Denis Remiens

REMIENS D. Recent research developments in piezoelectric materials for macro/micro systems, Research Signpost, Kerala, India, pp.211-235, 2003. ⟨hal-00132004⟩

  • Article dans une revue

An experimental and theoretical investigation of the GaInAs surface reactivity to phosphorus

X. Wallart, C. Priester

Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), 2003, 68, pp.235314. ⟨hal-00018497⟩

  • Communication dans un congrès

Caractérisation d'objets enfouis - Estimation du coefficient de réflexion

Latifa Achrait-Furlan, T. Lasri, Ahmed Mamouni

Actes de TELECOM 03 et 3èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, JFMMA 2003, 2003, Marrakech, Maroc. pp.1D-20. ⟨hal-00146066⟩

  • Communication dans un congrès

Modélisation de bruit pour des MOSFETs SOI 0,25 microns totalement désertés

G. Pailloncy, B. Iniguez, J.P. Raskin, Gilles Dambrine, Francois Danneville

2003, pp.6A-3. ⟨hal-00146010⟩