Publications

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  • Communication dans un congrès

Caractérisation non destructive d'un profil d'humidité à 2.45 GHz et technique de déconvolution aveugle associée

D. Glay, T. Lasri

2003, pp.6D-13. ⟨hal-00146064⟩

  • Communication dans un congrès

Phase sensitivity of low frequency ultrasound wave emitted by a nonlinear interaction of phase conjugate acoustic beams

Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky, Y.U. Pylnov

2003, pp.855-857. ⟨hal-00146131⟩

  • Communication dans un congrès

Amélioration du fmax des HEMTs InAlAs/InGaAs sur substrat d'InP de longueur de grille 70nm par optimisation de la structure de couche

I. Duszynski, T. Parenty, S. Bollaert, H. Happy, J. Mateos, X. Wallart, A. Cappy

2003, pp.2B1-1. ⟨hal-00145993⟩

  • Communication dans un congrès

Composants balistiques pour applications térahertz

S. Bollaert, Yannick Roelens, Jean-Sebastien Galloo, Isabelle Huynen, Hervé Boutry, Javier Mateos

GDR Nanoélectronique : 1ères Journées Nationales Composants pour la micro et nano-électronique, 4èmes Journées Nationales Hétérostructures de semiconducteurs IV-IV, 2003, Grenoble, France. ⟨hal-00146019⟩

  • Communication dans un congrès

Cymbal flextensional transducers. Biomedical arrays, design and fabrication studies

D. Markley, R. Newnham, R. Meyer, W.J. Hughes, N. Smith, S. Yip Lee, Anne-Christine Hladky

American Ceramic Society 105th Annual Meeting, 2003, Nashville,TN, United States. ⟨hal-00145964⟩

  • Communication dans un congrès

Feedback of MEMS reliability study on the design stage : a step toward reliability aided design (RAD)

L. Buchaillot

14th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2003, 2003, Arcachon, France. ⟨hal-00146457⟩

  • Communication dans un congrès

Physics-based process simulation of ultrashallow junctions

N.E.B. Cowern, B. Colombeau, R. Duffy, V. Venezia, C. Dachs, R. Lindsay, Fuccio Cristiano, E. Lampin, Alain Claverie

Ultra-Shallow Junctions Worshop, 2003, Santa Cruz, CA, United States. ⟨hal-00146422⟩

  • Communication dans un congrès

Numerical analysis of the process induced stresses in silicon microstructures

V. Senez, T. Hoffmann, A. Armigliato, I. de Wolf

2003, pp.350-361. ⟨hal-00146444⟩

  • Communication dans un congrès

Modélisation d'interconnexions submicroniques VLSI en présences des milieux environnants à pertes

K. El Bouazzati, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Christophe Seguinot, Denis Deschacht

IES, 2003, Villeneuve d'Ascq, France. pp.2D-17. ⟨hal-00146561⟩

  • Article dans une revue

About the measurements of the d33 piezoelectric coefficient of the PZT film-Si/SiO2/Ti/Pt substrates using an optical cryostat

J. Nosek, L. Burianova, M. Sulc, Caroline Soyer, Eric Cattan, Denis Remiens

Ferroelectrics, 2003, 292, pp.103-109. ⟨hal-00146464⟩