Publications
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Variation d'indice et absorption obtenus par effet plasma dans les hétérostructures InGaAsP/InP : mesure à 1,3 et 1,55 µm
Malek Zegaoui, Joseph Harari, V. Magnin, Didier Decoster
10èmes Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, JNMO 2004, Jun 2004, La Grande Motte, France. ⟨hal-00141216⟩
Semiconducting surface reconstruction of p-type Si(100) substrates at 5K
Luis Perdigao, D. Deresmes, B. Grandidier, M. Dubois, Christophe Delerue, Guy Allan, Didier Stiévenard
Physical Review Letters, 2004, 92, pp.216101/1-4. ⟨10.1103/PhysRevLett.92.216101⟩. ⟨hal-00141285⟩
Bruit dans les nouveaux composants et matériaux ou bruit fiabilité
Jean-Guy Tartarin, Geoffroy Soubercaze-Pun, Abdelali Rennane, Laurent Bary, Robert Plana, Jean-Claude de Jaeger, S. Delage, Jacques Graffeuil
Workshop Action Spécifique Bruit : Bruit en régime linéaire et non-linéaire dans les composants et circuits de télécommunications, 2004, La Grande Motte, France. ⟨hal-00141964⟩
A multi-mode continuously-tunable lowpass filter for zero-IF mobile applications
D. Chamla, A. Kaiser, A. Cathelin, D. Belot
2004, pp.95-98. ⟨hal-00140982⟩
Predictive modelling of the fatigue phenomenon for polycristalline structural layers
O. Millet, Pierre Bertrand, Bernard Legrand, D. Collard, L. Buchaillot
2004, pp.145-148. ⟨hal-00141028⟩
Analysis of right- and left-handed dispersive transmission lines at terahertz frequencies
Jean-Francois Lampin, T. Crepin, M. Perrin, M. Ternisien, L. Desplanque, F. Mollot, D. Lippens
2004, pp.101-102. ⟨hal-00140722⟩
EXAFS characterization of the gel leading to a hydrothermal deposition of PZT films
S. Euphrasie, S. Daviero-Minaud, Philippe Pernod
Integrated Ferroelectrics, 2004, 60, pp.117-130. ⟨hal-00140718⟩
RF and noise properties of SOI MOSFETs, including the influence of a direct tunneling gate current
Francois Danneville, G. Pailloncy, Gilles Dambrine, B. Iniguez
2004, pp.103-110. ⟨hal-00154886⟩
Hot carrier aging degradation phenomena in GaN based MESFETs
F. Rampazzo, G. Pierobon, D. Pacetta, Christophe Gaquière, D. Theron, B. Boudart, G. Meneghesso, E. Zanoni
Microelectronics Reliability, 2004, 44, pp.1375-1380. ⟨hal-00154890⟩