Publications
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Evolution de caractéristiques statiques de HEMTs AlGaN/GaN soumis à un stress électrique réalisé à différentes températures
B. Boudart, Jean-François Llibre, D. Briand, Boubekeur Tala-Ighil, H. Toutah, Yannick Guhel, Jean-Claude de Jaeger, Z. Bougrioua, Marianne Germain, Ingrid Moerman
13es Journées Nationales Microondes, 2003, Lille, France. ⟨hal-01654259⟩
Caractérisation d'objets enfouis - Estimation du coefficient de réflexion
Latifa Achrait-Furlan, T. Lasri, Ahmed Mamouni
Actes de TELECOM 03 et 3èmes Journées Franco-Maghrébines des Microondes et leurs Applications, JFMMA 2003, 2003, Marrakech, Maroc. pp.1D-20. ⟨hal-00146066⟩
Influence of residual air gaps on the characteristics of circular polarization aperture-coupled millimeter wave microstrip antennas
Ronan Sauleau, Philippe Coquet
Electronics Letters, 2003, 39 (12), pp.889-891. ⟨hal-00549359⟩
Radiation characteristics and performances of millimeter wave horn-fed gaussian beam antennas
Ronan Sauleau, Philippe Coquet, Daniel Thouroude, J.P. Daniel, T. Matsui
IEEE Transactions on Antennas and Propagation, 2003, 51 (3), pp.378-387. ⟨hal-00549357⟩
Beam focusing using 60-GHz Fabry-Perot resonators with uniform and non-uniform metal grids
Ronan Sauleau, Philippe Coquet, Daniel Thouroude, J.P. Daniel
Electronics Letters, 2003, 39 (4), pp.341-342. ⟨hal-00549353⟩
Conception de dispositifs passifs planaires en bande W
G. Prigent, E. Rius, François Le Pennec, S. Le Maguer, Cédric Quendo, G. Six, H. Happy, Gilles Dambrine
GDR Ondes, 2003, Marseille, France. ⟨hal-00250174⟩
Transmission electron microscopy analysis of silicides used in ALSB-SOI MOSFET structures
J. Katcki, J. Ratajczak, A. Laszcz, F. Phillipp, Emmanuel Dubois, Guilhem Larrieu, Julien Penaud, Xavier Baie
Conference on Microscopy of Semiconducting Materials, Mar 2003, Cambridge, United Kingdom. pp.479-482, ⟨10.1201/9781351074636-110⟩. ⟨hal-00250182⟩
Evaluation de la dégradation de béton par ondes ultrasonores haute fréquence
Bogdan Piwakowski, M. Goueygou, S. Ould-Naffa, F. Buyle-Bodin
GDR Ondes, Contrôle non destructif, 2003, Paris, France. ⟨hal-00250186⟩
High frequency noise sources extraction in nanometrique MOSFETs
Francois Danneville, G. Pailloncy, Gilles Dambrine
NATO Advanced Research Workshop, Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices, 2003, Brno, Czech Republic. ⟨hal-00146038⟩