Publications

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  • Communication dans un congrès

Modélisation numérique et caractérisation expérimentale du champ de cavitation ultrasonore

P. Mosbah, Bertrand Dubus, O. Ledez, C. Campos-Pozuelo, C. Granger

2002, pp.747-750. ⟨hal-00147777⟩

  • Article dans une revue

Fast electromagnetic characterization method of film-shaped materials using coplanar up to V-band

J. Hinojosa, K. Lmimouni, Gilles Dambrine

Electronics Letters, 2002, 38, pp.373-374. ⟨hal-00147838⟩

  • Communication dans un congrès

Solid-state 8 GHz transient signal digitizer characterization

A. Ghis, P. Ouvrier-Buffet, N. Rolland, A. Benlarbi-Delai, P.A. Rolland, D. Glay, D. Jaeger

2002, pp.1673-1676. ⟨hal-00148329⟩

  • Article dans une revue

Fabrication of a pMUT using silicon bulk micromachining and a sputtered PZT layer

W. Daniau, Karim Dogheche, S. Ballandras, Eric Cattan, Denis Remiens, W. Steichen, P. Blind

Proc. of the 2nd WorkShop on MUT, Besançon, 2002, pp. june. ⟨hal-00123195⟩

  • Communication dans un congrès

Piezoelectric properties of sputtered PZT films: influence of structure, microstructure, film thickness, (Zr,Ti) ratio and Nb substitution

Denis Remiens, Eric Cattan, Caroline Soyer, T. Haccart

European Materials Research Society Spring Meeting, Symposium P, Advanced Materials for Microelectronics : Ferroelectrics and Low-k Dielectrics, 2002, France. pp.123-127. ⟨hal-00250393⟩

  • Communication dans un congrès

Interactions entre les ultrasons et les matrices fromagères

Georges Nassar, Bertrand Nongaillard, C. Achilleos, L. Tessier, Y. Noel

7ème Colloque PROSETIA, Procédés de Séparation et de Transformation dans les Industries Agroalimentaires, 2002, Compiègne, France. ⟨hal-00149925⟩

  • Communication dans un congrès

High-frequency high-Q micro-mechanical resonators in thick epipoly technology with post-process gap adjustment

D. Galayko, A. Kaiser, Bernard Legrand, C. Combi, D. Collard, L. Buchaillot

2002, pp.665-668. ⟨hal-00148737⟩

  • Article dans une revue

Reliability of polysilicon microstructures : in situ test benches

O. Millet, D. Collard, L. Buchaillot

Microelectronics Reliability, 2002, 42, pp.1795-1800. ⟨hal-00148766⟩