Publications

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  • Article dans une revue

Fermi-edge singularities in AlxGa1-xAs quantum wells : extrinsic versus many-body scattering processes

Thierry Melin, F. Laruelle

Physical Review Letters, 2000, 85, pp.852-855. ⟨hal-00158647⟩

  • Autre publication scientifique

Contrôle et évaluation non destructifs par des techniques micro-ondes

T. Lasri

2000. ⟨hal-00158184⟩

  • Autre publication scientifique

Nature des liaisons dans des familles de chalcogenures à maille complexe

Isabelle Lefebvre

2000. ⟨hal-00158963⟩

  • Communication dans un congrès

Experiments on micromanipulation using adhesion forces in unconstrainted environment

Yves Rollot, Sinan Haliyo, Stéphane Regnier, Lionel Buchaillot, Jean-Claude Guinot, Philippe Bidaud

Actes de IROS'00 : IEEE International Conference on Intelligent Robots and Systems, 2000, -, Unknown Region. pp.653-658. ⟨hal-03191033⟩

  • Article dans une revue

FECTED oscillator optronic application feasibility

F. Driouch, M.R. Friscourt, Christophe Dalle

Solid-State Electronics, 2000, 44, pp.1455-1461. ⟨hal-00005313⟩

  • Article dans une revue

High cellular uptake of lipophilic oligonucleotide prodrugs

J. L. Imbach, J. C. Bologna, J. C. Bres, T. Lioux, I. Lefebvre, J. J. Vasscur, E. Vives, F. Morvan

Antiviral Research, 2000, 46 (1), pp.A47--A47. ⟨10.1016/S0166-3542(00)90371-1⟩. ⟨hal-02196846⟩

  • Article dans une revue

Substrate transfer process for InP-based heterostructure barrier varactor devices

S. Arscott, P. Mounaix, D. Lippens

Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures, 2000, 18 (1), pp.150. ⟨10.1116/1.591167⟩. ⟨hal-02348017⟩

  • Article dans une revue

Composition effect on the growth mode, strain relaxation and critical thickness of tensile Ga1-xInxP layers

X. Wallart, O. Schuler, D. Deresmes, F. Mollot

Applied Physics Letters, 2000, 76, pp.2080-2082. ⟨hal-00158231⟩

  • Communication dans un congrès

Matériaux à gap de photons reconfigurables

J. Danglot, O. Vanbésien, D. Lippens

6èmes Journées Caractérisation Microonde et Matériaux, JCMM 2000, 2000, Paris, France. ⟨hal-00158230⟩